[发明专利]碳化硅质量检测的方法

摘要

本发明公开了一种碳化硅质量检测的方法。该方法包括碳化硅粒度检测及碳化硅洁净度检测，其中：碳化硅粒度检测中将第一预设质量的第一待测碳化硅样品及第二预设质量的纯净水放入到带刻度的量筒中，搅拌后记录量筒中的液体的初始液位；并至固液分离界面稳定后得到最终固液分离液位；通过比较最终固液分离液位和初始液位作比值，判断第一待测碳化硅样品粒度是否合格。碳化硅洁净度检测将第三预设质量的第二待测碳化硅样品及第四预设质量的纯净水放入到容器中搅拌均匀；并将溶液煮沸第三预设时间后冷却到室温；通过查看冷却后是否有结团状物质吸附于容器内壁，判断第二待测碳化硅样品的洁净度是否合格。其检测条件要求低，检测成本低，检测效率高。

主权项

一种碳化硅质量检测的方法，其特征在于，包括碳化硅粒度检测及碳化硅洁净度检测，其中，所述碳化硅粒度检测包括以下步骤：取第一预设质量的第一待测碳化硅样品及第二预设质量的纯净水；在室温条件下将所取的第一待测碳化硅样品和纯净水放入到带刻度的量筒中，并充分搅拌第一预设时间；停止搅拌，并记录量筒中的液体的初始液位；每隔第二预设时间记录一次量筒中固液分离界面的高度，直至所述固液分离界面稳定后得到最终固液分离液位；将所述最终固液分离液位和所述初始液位作比值，得到第一结果；判断所述第一结果是否大于等于预设值，若是，则所述第一待测碳化硅样品粒度合格，若否，则所述第一待测碳化硅样品粒度不合格；且所述第二预设质量大于等于所述第一预设质量的三倍；所述碳化硅洁净度检测包括以下步骤：取第三预设质量的第二待测碳化硅样品及第四预设质量的纯净水；将所取的第二待测碳化硅样品及纯净水放入到容器中搅拌均匀；将搅拌均匀的溶液煮沸第三预设时间后冷却到室温；查看冷却后是否有结团状物质吸附于容器内壁，若是，则所述第二待测碳化硅样品的洁净度不合格；其中所述第四预设质量大于等于所述第三预设质量的三倍。