[发明专利]包括具有多倾角的沟槽壁的半导体器件有效
申请号: | 201410768392.6 | 申请日: | 2014-12-12 |
公开(公告)号: | CN104752508B | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 朴相真;尹普彦;全夏英;赵炳权;韩政男 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/10;H01L29/06 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 弋桂芬 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了包括具有多倾角的沟槽壁的半导体器件。半导体器件包括限定沟槽的栅极间隔物,栅极间隔物包括顺序地位于基板上的第一部分和第二部分。第一部分的内表面具有相对于基板的锐角倾角,第二部分的内表面具有相对于基板的直角倾角或钝角倾角。栅极电极填充沟槽的至少一部分。 | ||
搜索关键词: | 包括 具有 倾角 沟槽 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:栅极间隔物,限定沟槽并包括顺序地位于基板上的第一部分和第二部分,所述第一部分的内表面具有相对于所述基板的锐角倾角,所述第二部分的内表面具有相对于所述基板的直角倾角或钝角倾角;和栅极电极,在所述沟槽的至少一部分中。
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