[发明专利]一种长基线光学交会测量的像点快速匹配方法有效

专利信息
申请号: 201410723550.6 申请日: 2014-12-02
公开(公告)号: CN104504683B 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 程志远;折文集;李艳;张欣 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G06T7/33 分类号: G06T7/33;G06T5/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种长基线布站相机间像点群快速匹配方法,先对两站相机中像点进行畸变像差修正,再将相机1和相机2中像点投影变换到平行于两相机测量基线的同一投影像面内,再将相机1和相机2像面变换到距三维空间坐标系水平轴同一水平高度,平行变换处理后,两站相机像点分别按距三维坐标系水平轴的高度排序;若两像点距三维空间坐标系水平轴高度差小于等于设定匹配阈值,则为正确匹配点。本发明只需比较像点与坐标系水平轴高度差,不需点到直线距离等复杂计算,有效减小像点匹配计算复杂度,省去大量重复计算,可实现两站相机同名像点快速准确匹配,有效提高长基线光学交会测量像点群匹配速度和匹配正确率。
搜索关键词: 一种 基线 光学 交会 测量 快速 匹配 方法
【主权项】:
一种长基线光学交会测量的像点快速匹配方法,其特征在于:包括以下步骤:1)获取像点坐标值:获取三维空间点群在相机1和相机2成像像面上的像点坐标值;2)投影像面平行归一化计算:2.1)由相机1和相机2摄影模型的投影中心O1和O2的连线得到测量基线O1‑O2;2.2)相机1像面变换到平行于测量基线O1‑O2的投影像面;2.3)相机2像面变换到平行于测量基线O1‑O2的投影像面;3)像点群快速匹配:3.1)相机1像点群{P1_1’,P1_2’,P1_3’}和相机2像点群{P2_1’,P2_2’,P2_3’}中所有点按像点距坐标系OXZ水平面高度由高到低排序;3.2)依序由像点距三维空间坐标系水平面OXZ高度,从高到低遍历比较相机1和相机2像点高度;若相机1与相机2像点距三维空间坐标系OXZ水平面高度差的绝对值|d|小于等于设定的匹配阈值E,则两台相机像点为正确匹配点对;若两台相机像点高度差绝对值|d|大于设定的匹配阈值E,则继续判断d大于零还是小于零:若高度差d<0,则选取相机2像点群中距水平X轴次高点P2_2’(X22,Y22),计算相机1中像点P1_1’和相机2中像点P2_2’两个像点高度差d,直到找到相机2中像点与相机1像点P1_1’高度差绝对值|d|<=E,则相机2中该像点为相机1像点P1_1’的正确匹配点;若搜寻完相机2中所有像点,仍找不到|d|<=E的像点,则相机1中像点P1_1’在相机2中无正确匹配点;接下来选取相机1中像点P1_2’重新开始上述3.2)匹配步骤;若高度差d>0,则相机1中像点P1_1’在相机2中无正确匹配像点;直接选取相机1中第2个像点P1_2’重新开始上述3.2)匹配步骤;3.3)依次类推,直至遍历完相机1像面上所有像点为止。
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