[发明专利]一种老化处理装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410659467.7 申请日: 2014-11-18
公开(公告)号: CN105676104A 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 包智杰;黄浩;营珊 申请(专利权)人: 上海宏测半导体科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 200001 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种老化处理装置及方法,上述方法包括以下步骤:多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路;测试控制设备按照预设策略,在温度控制设备提供的目标温度下对所述不同类型板卡进行老化;其中,所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、加热器、散热器;其中,所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、所述散热器相连。本发明大大提升了老化的效率,缩短了老化的时间,控制老化设备内的温度,使其达到恒温的效果,进一步提升了老化板卡的可靠性。
搜索关键词: 一种 老化 处理 装置 方法
【主权项】:
一种老化处理装置,其特征在于,包括:老化设备;地址数据信号驱动电路;数据线接口;测试控制设备;温度控制设备;所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连;所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连。
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