[发明专利]一种老化处理装置及方法

说明书

技术领域

本发明属于老化处理领域，尤其涉及一种老化处理装置及方法。

背景技术

现有技术中，将单块模拟功能板卡通过Cable线接到校准板卡进行单通道 的串行老化，即同一块模拟功能板卡上有2、4、8三种通道组合的板卡，当老 化完第一通道后再老化下一个通道；同时连接不同的Cable线时需修改底层的 测试软件；另外，老化一块板卡循环测试15000次的时间要达到18～20个小时。

因此上述方案存在以下缺点：

1、单块模拟功能板卡的老化串行老化时间长，时间达到18～20个小时， 有的甚至更长，达到24个小时，并且由于是单块板卡老化，无法提高老化设备 的利用率；

2、由于Cable线的连接不同需要修改底层的程序，容易出现改错位置等问 题不利于生产使用；

3、老化设备的温度只能达到28°，远低于老化标准要求的45℃并且无法 控制在恒温状态下；

4、加直流偏压进行的静态老化，对板卡、器件的功能未进行老化。

发明内容

本发明提供一种老化处理装置及方法，以解决上述问题。

本发明还提供一种老化处理装置，包括：老化设备；地址数据信号驱动电 路；数据线接口；测试控制设备；温度控制设备；所述老化设备分别与所述地 址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连；所述测试控制设备通过所述数 据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连。

本发明提供一种老化处理方法。上述方法包括以下步骤：多个不同类型板 卡接入老化设备中的多组负载电路；

测试控制设备按照预设策略，在温度控制设备提供的目标温度下对所述不 同类型板卡进行老化；其中，所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、 加热器、散热器；其中，所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、 所述散热器相连。

相较于先前技术，根据本发明提供的一种老化处理装置及方法，通过以下 方案：老化设备；地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度 控制设备；所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设 备相连；所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路 相连；大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间，控制老化设备内的温度， 使其达到恒温的效果，进一步提升了老化板卡的可靠性。

通过以下方案：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路之前， 还包括：将同类型板卡的不同通道编辑入同一个测试组Group；测试控制设备按 照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化的过程为：循环老化一个Group后 再老化另一个Group。通过将同类型的板卡编组的方式，按组进行循环老化，组 内同时进行老化，大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间。

通过以下方案：测试控制设备按照设定循环次数，控制所述不同类型板卡 老化过程；不仅大大保证了保证老化板卡的稳定性、可靠性，并且达到老化标 准要求的次数。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分， 本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限 定。在附图中：

图1所示为本发明实施例1的设备老化处理装置结构图；

图2所示为本发明实施例2的设备老化处理方法流程图；

图3为负载电路具体结构图；

图4为双路电压电流源接口定义图；

图5为四路电压电流源接口定义图；

图6为八路电压电流源接口定义图；

图7为地址数据信号驱动电路的具体结构图；

图8为数据线接口定义图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不 冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

图1所示为本发明实施例1的设备老化处理装置结构图，包括老化设备； 地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度控制设备、显示设 备；所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连； 所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连；所 述显示设备与所述测试控制设备相连。