[发明专利]基于激光跟踪仪的轨道静态平顺性测量与分析方法有效

专利信息
申请号: 201410582419.2 申请日: 2014-10-27
公开(公告)号: CN104358194A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 姚连璧;孙海丽;徐恒立;汪志飞;李亚云;王璇 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: E01B35/00 分类号: E01B35/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 赵志远
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于激光跟踪仪的轨道静态平顺性测量与分析方法,包括以下步骤:1)激光跟踪仪设站位置在轨道一侧,测量CPIII控制点,利用十三参数坐标转换,获取激光跟踪仪坐标系和CPIII控制点坐标系的坐标转换参数;2)在轨道上往返推行轨检小车,激光跟踪仪跟踪轨检小车上的靶球,获取棱镜点坐标;3)利用棱镜点坐标和坐标转换参数计算左右轨道点三维坐标,从而计算轨道中线点三维坐标、轨道点距离和超高,再利用轨道设计线形数据,进行轨道几何内部几何参数的计算。与现有技术相比,本发明既能提高测量速率,又能获取厘米甚至更小间隔的数据,更有利于轨道静态平顺性的快速测量和基于准确位置的轨道状态分析。
搜索关键词: 基于 激光 跟踪 轨道 静态 平顺 测量 分析 方法
【主权项】:
一种基于激光跟踪仪的轨道静态平顺性测量与分析方法,其特征在于,包括以下步骤:1)激光跟踪仪设站位置在轨道一侧,测量CPIII控制点,利用十三参数坐标转换,获取激光跟踪仪坐标系和CPIII控制点坐标系的坐标转换参数;2)在轨道上往返推行轨检小车,激光跟踪仪跟踪轨检小车上的靶球,获取棱镜点坐标;3)利用棱镜点坐标和坐标转换参数计算左右轨道点三维坐标,从而计算轨道中线点三维坐标、轨道点距离和超高,再利用轨道设计线形数据,进行轨道几何内部几何参数的计算。
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