[发明专利]一种EDFA瞬态测试方法在审

专利信息
申请号: 201410574964.7 申请日: 2014-10-24
公开(公告)号: CN104296966A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 周仲谋;陈智凯;刘婕;徐桂芹;徐晓忠;吕华龙;张水兴 申请(专利权)人: 国家电网公司;国网江西省电力公司赣西供电分公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 代理人: 施秀瑾
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种EDFA瞬态测试方法,用于测试EDFA的瞬态特性,ASESource产生平坦的宽谱ASE光,经过一个1X2的波长选择光开关后,产生两路多波长信号光源,对产生的两路多波信号光源,一路进行强度调制,作为上下波通道,另外一路用作待监控通道。两路信号光用光耦合器合波后,用作瞬态特性测试的信号光源。产生的信号光源经过待测的EDFA后,进入一个2X1的波长选择光开关,滤出需要求检测的波长光信号,经过光电转换,进入对数转换电路或者跨导转换电路,用数字示波器进行检测;采用ASE光源和波长选择光开关产生多波光源,成本低廉,测试波长可任意选择。
搜索关键词: 一种 edfa 瞬态 测试 方法
【主权项】:
一种EDFA瞬态测试方法,用于测试EDFA的瞬态特性,其特征在于:ASE Source(101)产生平坦的宽谱ASE光,经过一个1X2的波长选择光开关(102)后,产生两路多波长信号光源,对产生的两路多波信号光源,一路进行强度调制,作为上下波通道,另外一路用作待监控通道;两路信号光用光耦合器(110)合波后,用作瞬态特性测试的信号光源;产生的信号光源经过待测的EDFA后,进入一个2X1的波长选择光开关(109),滤出需要求检测的波长光信号,经过光电转换,进入对数转换电路或者跨导转换电路(107),用数字示波器(108)进行检测。
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