[发明专利]化妆品中纳米粒子的冷冻扫描电子显微镜检测方法在审

专利信息
申请号: 201410564424.0 申请日: 2014-10-21
公开(公告)号: CN104360106A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 杨海峰;李俊芳;闫妍;李亚辉;席广成;白桦 申请(专利权)人: 中国检验检疫科学研究院
主分类号: G01Q30/02 分类号: G01Q30/02;G01Q30/20
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王文君
地址: 100123 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于检测领域,提供一种化妆品中纳米粒子的冷冻扫描电子显微镜检测方法,其包括步骤:1)将待测化妆品样品置于冷冻扫描电子显微镜的样品架上,转入冷冻装置中,样品架完全置于液氮中,通过液氮制冷进行样品的冷冻;2)冷冻后的样品转移至离子溅射装置中镀膜,3)镀膜后转入扫描电子显微镜中进行形貌测试。本发明提出的方法,将待研究的样本在液氮条件下快速冷冻,以实现完美保持其原始形态,再通过镀膜技术对样品进行处理,通过电子显微镜进行观察。避免了纳米成份因前处理所导致的团聚与变性,同时也缩短了实测样品的制备时间,提高了检测效率,完整还原待测样品的真实形态,最终获得确实可靠的样本信息。
搜索关键词: 化妆品 纳米 粒子 冷冻 扫描 电子显微镜 检测 方法
【主权项】:
一种化妆品中纳米粒子的冷冻扫描电子显微镜检测方法,其特征在于,包括步骤:1)将待测化妆品样品置于冷冻扫描电子显微镜的样品架上,转入冷冻装置中,样品架完全置于液氮中,通过液氮制冷进行样品的冷冻;2)冷冻后的样品转移至离子溅射装置中镀膜,镀膜的材料为金、铂或镉;3)镀膜后转入扫描电子显微镜中进行形貌测试,放大倍数为1000‑100k。
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