[发明专利]一种MEMS陀螺结构关键参数自动测试方法有效

专利信息
申请号: 201410554776.8 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN105571612B 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 崔健;林梦娜;王晓磊;郭中洋;杨军 申请(专利权)人: 北京自动化控制设备研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种用于MEMS陀螺结构关键参数自动测试方法。所述方法包括如下步骤:步骤1)在MEMS陀螺驱动模态的驱动结构电极上施加白噪声电压激励产生驱动力;步骤2)将MEMS陀螺驱动模态的振动拾取结构电极连接前置读出电路;所述响应曲线采集到数字信号处理器中进行FFT处理,获得驱动模态的谐振频率fd;步骤3)以步骤2)得到的谐振频率fd构造正弦波,施加在驱动模态的驱动结构电极上,在确定陀螺起振后,采集驱动模态和检测模态前置读出电路的输出电压,获得耦合比;步骤4)撤除正弦波激励,由衰减曲线计算出驱动模态的品质因数Qd。可以自动测试谐振频率、品质因数和耦合电压比、位移比等结构关键参数。
搜索关键词: 驱动模态 关键参数 谐振频率 自动测试 陀螺驱动模态 读出电路 品质因数 驱动结构 陀螺结构 电极 前置 数字信号处理器 采集 施加 正弦波激励 电压激励 结构电极 输出电压 衰减曲线 响应曲线 耦合电压 白噪声 检测模 驱动力 正弦波 耦合比 陀螺 撤除 起振 拾取
【主权项】:
1.一种MEMS陀螺结构关键参数自动测试方法,适用于包含两个工作模态结构MEMS陀螺的结构关键参数的测试,所述两个工作模态结构为驱动模态结构和检测模态结构;所述驱动模态结构包括驱动模态驱动结构、驱动模态振动结构和驱动模态振动拾取结构;所述检测模态结构包括检测模态驱动结构、检测模态振动结构和检测模态振动拾取结构;所述结构关键参数包括:驱动模态的谐振频率fd、驱动模态的品质因数Qd、驱动模态和检测模态的耦合电压比;其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤1)在MEMS陀螺驱动模态的驱动结构电极上施加白噪声电压激励产生驱动力;步骤2)将MEMS陀螺驱动模态的振动拾取结构电极连接前置读出电路;前置读出电路读取陀螺输出的电压变化量,获得陀螺驱动模态的响应曲线;所述响应曲线采集到数字信号处理器中进行FFT处理,获得驱动模态的谐振频率fd;步骤3)以步骤2)得到的谐振频率fd构造正弦波,施加在驱动模态的驱动结构电极上,在确定陀螺起振后,采集驱动模态和检测模态前置读出电路的输出电压,获得耦合比;步骤4)撤除正弦波激励,由衰减曲线计算出驱动模态的品质因数Qd;在完成步骤3)后,撤除正弦波激励,驱动模态的前置读出电路输出陀螺振动衰减曲线,由衰减曲线计算出驱动模态的品质因数Qd。
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