[发明专利]一种高浓度Te掺杂的发光二极管外延方法有效
申请号: | 201410551209.7 | 申请日: | 2014-10-17 |
公开(公告)号: | CN104332536A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 林志伟;陈凯轩;张永;卓祥景;姜伟;杨凯;蔡建九;白继锋;刘碧霞 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/12;H01L33/28 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人: | 廖吉保;唐绍烈 |
地址: | 361000 福建省厦门市火炬*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开一种高浓度Te掺杂的发光二极管外延方法:一,在衬底上分别依次形成缓冲层、腐蚀阻挡层、粗化层;二、在粗化层上外延第一型电流扩展层的第一层结构;三、在第一型电流扩展层第一层结构上外延生长第一组超晶格;四、在第一组超晶格上外延生长第一型电流扩展层第二层结构;五、重复三、四的结构,直至在第n-1组超晶格上外延生长第一型电流扩展层第n层结构;六、在第一型电流扩展层第n层结构上接着外延生长第一型限制层、有源层、第二型限制层、第二型电流扩展层。本发明制作的发光二极管外延结构可以减少杂质对短波长光的吸收,有效提高发光二极管的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 浓度 te 掺杂 发光二极管 外延 方法 | ||
【主权项】:
一种高浓度Te掺杂的发光二极管外延方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一、在衬底上分别形成缓冲层、腐蚀阻挡层、粗化层,在粗化层外延生长结束前降低生长温度;步骤二、在粗化层上外延第一型电流扩展层的第一层结构;步骤三、在第一型电流扩展层第一层结构上外延生长第一组超晶格;步骤四、在第一组超晶格上外延生长第一型电流扩展层第二层结构; 步骤五、重复步骤三、四的结构,直至在第n‑1组超晶格上外延生长第一型电流扩展层第n层结构;步骤六、在第一型电流扩展层第n层结构生长结束后,停顿且提高反应室压力和加大载气流量,以及提高外延生长温度;步骤七、在第一型电流扩展层第n层结构上接着外延生长第一型限制层、有源层、第二型限制层、第二型电流扩展层。
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