[发明专利]NOR闪存结构

摘要

本发明提出了一种NOR闪存结构，在字线上设有多个断点形成字线段，字线段之间相互隔离开每个字线段均通过通孔连线与金属连线相连，在进行测试时，金属连线提供相应的电压，若金属连线出现断线缺陷，断点以后的字线将得不到供压，无论在高频还是低频下会导致操作失效，无需进行高频测试也能确保金属连线的断线缺陷测试阶段全部被分拣出来，从而能够及时发现，提高分拣精度，且无需额外设备，降低分拣成本。

主权项

一种NOR闪存结构，其特征在于，包括：衬底、多个存储单元、字线、金属硅化物、多个通孔连线及金属连线，其中，所述存储单元形成在所述衬底上，所述字线形成在所述存储单元上，所述金属硅化物形成在所述字线的表面，所述金属连线通过所述通孔连线与所述金属硅化物相连，所述字线设有多个断点形成多个字线段，所述字线段之间相互隔离开，所述通孔连线与所述字线段一一对应。