[发明专利]掺杂方法在审
| 申请号: | 201410522222.X | 申请日: | 2014-09-30 |
| 公开(公告)号: | CN105529379A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
| 发明(设计)人: | 沈培俊;金光耀;王懿喆;陈炯 | 申请(专利权)人: | 上海晶玺电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/225 |
| 代理公司: | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人: | 薛琦 |
| 地址: | 200092 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种掺杂方法,包括以下步骤:在第一导电类型衬底的正面和背面形成绒面;通过热扩散工艺在第一导电类型衬底的正面中形成第一导电类型掺杂层和第一氧化层;在第一导电类型衬底的背面中扩散掺杂形成第二导电类型掺杂层,并在该第二导电类型掺杂层上形成第二氧化层;图形化该第二氧化层;蚀刻预定区域的第二导电类型掺杂层直至暴露出该第一导电类型衬底;在该凹槽的表面中形成第一导电类型掺杂区域。本发明利用了热扩散工艺中形成的氧化层作为掩膜,来实现后续离子注入的局部掺杂,由此,无需额外形成掩膜,整体工艺极为简单,连贯性很强。 | ||
| 搜索关键词: | 掺杂 方法 | ||
【主权项】:
一种掺杂方法,其特征在于,其包括以下步骤:S1:在第一导电类型衬底的正面和背面形成绒面;S2:通过热扩散工艺在第一导电类型衬底的正面中形成第一导电类型掺杂层,并且在扩散掺杂过程中在该第一导电类型掺杂层上形成第一氧化层;S3:蚀刻该第一导电类型衬底的边缘并且抛光该第一导电类型衬底的背面;S4:在第一导电类型衬底的背面中扩散掺杂形成第二导电类型掺杂层,并且在扩散掺杂的过程中在该第二导电类型掺杂层上形成第二氧化层;S5:图形化该第二氧化层以暴露出预定区域的第二导电类型掺杂层;S6:蚀刻预定区域的第二导电类型掺杂层直至暴露出该第一导电类型衬底并由此在该第一导电类型衬底的背面中形成凹槽;S7:在该凹槽的表面中形成第一导电类型掺杂区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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