[发明专利]一种利用X-荧光光谱分析地质样品中痕量元素的方法

摘要

本发明公布了一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，属于化学分析技术领域。通过利用熔融法将地质样品和标准品制备成玻璃片，然后利用标准品制定校准曲线，最后利用X-荧光光谱仪分析样品中Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu、Se、Ge的含量。该方法具有制样简单、操作方便、测量结果准确等优点。

主权项

一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)样品的制备：将样品在110～130℃条件下烘2～4h，然后将标样或待测样品、混合熔剂以及NH₄NO₃混合，放置在铂金‑金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于熔样机上，在700～850℃中放置5～6min，然后升温至1150～1350℃，熔融5min，再摇动3min，静置1min后倒入模具内浇铸成玻璃熔片；(2)标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X‑射线荧光光谱仪分析，制定校准曲线；(3)测量条件：样品中的各种物质测量条件如下：Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu：选择Kα线，管压100kV，管流6mA，二级靶用Al₂O₃，测量时间为250s；Se：选择Kα线，管压100kV，管流6mA，二级靶用Mo，测量时间为600s；Ge：选择Kα线，管压100kV，管流6mA，二级靶用KBr，测量时间为250s。