[发明专利]一种利用X-荧光光谱分析地质样品中痕量元素的方法

权利要求书

1.一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)样品的制备：将样品在110～130℃条件下烘2～4h，然后将标样或待测样品、混合熔剂以及NH₄NO₃混合，放置在铂金-金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于熔样机上，在700～850℃中放置5～6min，然后升温至1150～1350℃，熔融5min，再摇动3min，静置1min后倒入模具内浇铸成玻璃熔片；

(2)标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X-射线荧光光谱仪分析，制定校准曲线；

(3)测量条件：样品中的各种物质测量条件如下：

Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu：选择Kα线，管压100kV，管流6mA，二级靶用Al₂O₃，测量时间为250s；

Se：选择Kα线，管压100kV，管流6mA，二级靶用Mo，测量时间为600s；

Ge：选择Kα线，管压100kV，管流6mA，二级靶用KBr，测量时间为250s。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中所述的混合熔剂为Li₂B₄O₇与LiBO₂按照质量比为66:34混合的混合物。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中待测样品、混合熔剂和NH₄NO₃按照质量比为1:6:1的比例混合。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中所述的脱模剂为LiBr饱和溶液，每克样品添加量为220～350μL。