[发明专利]THz天线阵列的制作方法有效
| 申请号: | 201410412325.0 | 申请日: | 2014-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN104332718B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
| 发明(设计)人: | 梁松;朱洪亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号: | H01Q21/00 | 分类号: | H01Q21/00;G02B6/125 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 一种THz天线阵列的制作方法,包括如下步骤1)选择一衬底;2)在衬底上依次生长缓冲层、无源波导层、光耦合层、折射率匹配层、光吸收层、包层和接触层材料;3)依次刻蚀接触层、包层、光吸收层及折射率匹配层材料至光耦合层,刻蚀的形状为四边形结构,其为光混频器波导;4)在光混频器波导上部的接触层之上制作电极,在其两侧的光耦合层上制作电极;5)刻蚀光耦合层,刻蚀深度至无源波导层形成楔形光耦合波导;6)刻蚀无源波导层至缓冲层,形成1×N分光器、输入波导及无源波导,形成基片;7)在基片上制作THz天线,完成制备。本发明可以得到高性能THz天线阵列器件。 | ||
| 搜索关键词: | thz 天线 阵列 制作方法 | ||
【主权项】:
一种THz天线阵列的制作方法,包括如下步骤:1)选择一衬底;2)在衬底上依次生长缓冲层、无源波导层、光耦合层、折射率匹配层、光吸收层、包层和接触层材料;3)依次刻蚀接触层、包层、光吸收层及折射率匹配层材料至光耦合层,刻蚀的形状为四边形结构,其为光混频器波导;4)在光混频器波导上部的接触层之上制作电极,在其两侧的光耦合层上制作电极;5)刻蚀光耦合层,刻蚀深度至无源波导层形成楔形光耦合波导;6)刻蚀无源波导层至缓冲层,形成1×N分光器、输入波导及无源波导,形成基片;7)在基片上制作THz天线,完成制备。
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