[发明专利]具有场效应晶体管的半导体器件有效

专利信息
申请号: 201410369696.5 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104347690B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 金钟银;金东铉;宋炫升 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 陈源;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种半导体器件,该半导体器件包括从衬底上突出的鳍部。鳍部包括基部、位于基部上的中间部和位于中间部上的沟道部。中间部的宽度小于基部的宽度而大于沟道部的宽度。栅电极覆盖沟道部的两个侧壁和上表面,器件绝缘图案覆盖基部的两个侧壁和中间部的两个侧壁。
搜索关键词: 具有 场效应 晶体管 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:鳍部件,所述鳍部件从衬底上突出并且包括具有两个侧壁的基部、位于所述基部上并具有两个侧壁的中间部和位于所述中间部上并具有两个侧壁的沟道部,所述中间部的宽度小于所述基部的宽度而大于所述沟道部的宽度;器件绝缘图案,所述器件绝缘图案设置在所述衬底上的所述鳍部件周围并且覆盖所述基部的两个侧壁和所述中间部的两个侧壁;栅电极,所述栅电极跨越所述鳍部件并且覆盖所述沟道部的两个侧壁和上表面;以及栅极绝缘层,所述栅极绝缘层设置在所述沟道部与所述栅电极之间,其中,所述鳍部件的至少第一侧壁在所述基部与所述中间部之间的界面处的斜率不同于在所述基部与所述沟道部之间的所述中间部的一部分的斜率,其中,所述基部、所述中间部和所述沟道部的宽度阶梯式减小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410369696.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top