[发明专利]一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法

摘要

本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查找表单元添加前向冗余线。通过添加前向、后向冗余线，可以减少该局部电路所需的测试向量数，从而在整体上减少全电路所需的总测试向量数。同时，该方法能够在一定程度上减少原电路测试生成时产生的未知故障，降低电路测试生成的难度。

主权项

一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，其特征在于该方法包括以下步骤：(1)在现场可编程门阵列芯片应用电路的两个直接相连的查找表单元之间，添加后向冗余互连线，添加方法为：若两个直接相连的查找表单元同时满足以下五个条件，则在两个直接相连的查找表单元之间添加后向冗余互连线，所述的五个条件分别为：①前查找表单元LUT1的输入顺序为x1，...，xr‑1，输出为z1，②后查找表单元LUT2的输入顺序为z1，...，zt，输出为y，③前查找表单元LUT1的输出z1只输出到后查找表单元LUT2，④前查找表单元LUT1存在空闲输入线xr，⑤当后查找表单元LUT2的一条输入线zi的逻辑值为确定值d1时，另一条输入线z1的逻辑值对该LUT2的输出线的逻辑值不产生影响；添加后向冗余互连线的过程为：(1‑1)在现场可编程门阵列芯片应用电路中找出满足上述五个条件的两个直接相连的查找表单元，在该两个直接相连的查找表单元中的后查找表单元LUT2中，找出满足上述条件⑤的所有输入线；(1‑2)利用高尔德斯泰可测性度量(SCOAP度量)方法，在步骤(1‑1)找出的所有输入线中选出一条输入线，并将该输入线连接至前查找表单元LUT1的空闲输入线xr，该连接线记为后向冗余互连线(1‑3)用前查找表单元LUT1的原逻辑值替代添加后向冗余互连线后的前查找表单元LUT1的立方的逻辑值，立方的含义为：对于查找表单元，固定这一查找表单元的任意几个输入线的逻辑值，剩余的输入线任意取值，满足这样条件的输入所对应的查找表中的存储位的集合称为立方；(1‑4)将添加后向冗余互连线后的前查找表单元LUT1的立方全部配置为确定逻辑值(2)根据步骤(1)的条件，从电路的输入端开始，向输出端的方向按照电路层次的顺序，遍历电路中的所有查找表单元，对遍历到的查找表单元重复步骤(1‑1)‑(1‑4)，对符合上述五个条件的前查找表单元LUT1添加后向冗余互连线；(3)在现场可编程门阵列芯片应用电路的两个直接相连的查找表单元之间，添加前向冗余互连线，添加方法为：若两个直接相连的查找表单元同时满足以下六个条件，则在两个直接相连的查找表单元之间添加前向冗余互连线，所述的六个条件分别为：①前查找表单元LUT1的输入顺序为x1，...，xr，输出为z1，②后查找表单元LUT2的输入顺序为z1，...，zt‑1，输出为y，③前查找表单元LUT1的输出z1只输出到后查找表单元LUT2，④后查找表单元LUT2存在空闲输入线zt，⑤当前查找表单元LUT1的一条输入线xi的逻辑值为确定值d1时，前查找表单元LUT1的输出逻辑值为确定值d2，⑥前查找表单元LUT1的输入线数量不少于后查找表单元LUT2的输入线数量，添加前向冗余互连线的过程为：(3‑1)在现场可编程门阵列芯片应用电路中，找出满足上述六个条件的两个直接相连的查找表单元，并找出与该两个直接相连的查找表单元中的后查找表单元LUT2直接相连的满足上述六个条件的其他多个前查找表单元，在所有满足上述六个条件的前查找表单元的输入线中找出满足上述条件⑤的所有输入线；(3‑2)利用高尔德斯泰可测性度量(SCOAP度量)方法，在步骤(3‑1)找出的输入线中选取一条，将该输入线连接至后查找表单元LUT2的空闲输入线zt，将该连接线记为前向冗余互连线(3‑3)用后查找表单元LUT2的原逻辑值替代添加前向冗余互连线后的后查找表单元LUT2的立方的逻辑值；(3‑4)用后查找表LUT2的原立方的逻辑值替代添加前向冗余互连线后的后查找表单元LUT2的立方的逻辑值；(3‑5)用后查找表单元LUT2的立方的逻辑值替代添加前向冗余互连线后的后查找表单元LUT2的立方的逻辑值；(4)根据步骤(3)的条件，从电路的输出端开始，向输入端的方向按照电路的层次顺序的逆序，遍历电路中的查找表单元，对遍历到的查找表单元重复步骤(3‑1)‑(3‑5)，对符合上述六个条件的后查找表单元LUT2添加前向冗余互连线；(5)对上述添加了前向冗余互连线和后向冗余互连线的现场可编程门阵列芯片应用电路进行测试。