[发明专利]一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法

权利要求书

1.一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，其特征在于该方法包括以下步骤：

(1)在现场可编程门阵列芯片应用电路的两个直接相连的查找表单元之间，添加后向冗余互连线，添加方法为：

若两个直接相连的查找表单元同时满足以下五个条件，则在两个直接相连的查找表单元之间添加后向冗余互连线，所述的五个条件分别为：①前查找表单元LUT₁的输入顺序为x₁,…,x_r-1，输出为z₁，②后查找表单元LUT₂的输入顺序为z₁,…,z_t，输出为y，③前查找表单元LUT₁的输出z₁只输出到后查找表单元LUT₂，④前查找表单元LUT₁存在空闲输入线x_r，⑤当后查找表单元LUT₂的一条输入线z_i的逻辑值为确定值d₁时，另一条输入线z₁的逻辑值对该LUT₂的输出线的逻辑值不产生影响；

添加后向冗余互连线的过程为：

(1-1)在现场可编程门阵列芯片应用电路中找出满足上述五个条件的两个直接相连的查找表单元，在该两个直接相连的查找表单元中的后查找表单元LUT₂中，找出满足上述条件⑤的所有输入线；

(1-2)利用高尔德斯泰可测性度量(SCOAP度量)方法，在步骤(1-1)找出的所有输入线中选出一条输入线，并将该输入线连接至前查找表单元LUT₁的空闲输入线x_r，该连接线记为后向冗余互连线

(1-3)用前查找表单元LUT₁的原逻辑值替代添加冗余互连线后的前查找表单元LUT₁的立方{xr=d1*‾};]]>

(1-4)将添加后向冗余互连线后的前查找表单元LUT₁的立方全部配置为确定逻辑值

(2)根据步骤(1)的条件，从电路的输入端开始，向输出端的方向按照电路层次的顺序，遍历电路中的所有查找表单元，对每个查找表单元重复步骤(1-1)-(1-4)，对符合上述五个条件的前查找表单元LUT₁添加后向冗余互连线；

(3)在现场可编程门阵列芯片应用电路的两个直接相连的查找表单元之间，添加前向冗余互连线，添加方法为：

若两个直接相连的查找表单元同时满足以下六个条件，则在两个直接相连的查找表单元之间添加前向冗余互连线，所述的六个条件分别为：①前查找表单元LUT₁的输入顺序为x₁,…,x_r，输出为z₁，②后查找表单元LUT₂的输入顺序为z₁,…,z_t-1，输出为y，③前查找表单元LUT₁的输出z₁只输出到后查找表单元LUT₂，④后查找表单元LUT₂存在空闲输入线z_t，⑤当前查找表单元LUT₁的一条输入线x_i的逻辑值为确定值d₁时，前查找表单元LUT₁的输出逻辑值为确定值d₂，⑥前查找表单元LUT₁的输入线数量不少于后查找表单元LUT₂的输入线数量，

添加前向冗余互连线的过程为：

(3-1)在现场可编程门阵列芯片应用电路中，找出满足上述六个条件的两个直接相连的查找表单元，并找出与该两个直接相连的查找表单元中的后查找表单元LUT₂直接相连的满足上述六个条件的其他多个前查找表单元，在所有满足上述六个条件的前查找表单元的输入线中找出满足上述条件⑤的所有输入线；

(3-2)利用高尔德斯泰可测性度量(SCOAP度量)方法，在步骤(3-1)找出的输入线中选取一条，将该输入线连接至后查找表单元LUT₂的空闲输入线z_t，将该连接线记为前向冗余互连线

(3-3)用后查找表单元LUT₂的原逻辑值替代添加冗余互连线后的后查找表单元LUT₂的立方{zt=d1*‾};]]>

(3-4)用后查找表LUT₂的原立方的逻辑值替代添加冗余互连线后的后查找表单元LUT₂的立方

(3-5)用后查找表单元LUT₂的立方的逻辑值替代添加冗余互连线后的后查找表单元LUT₂的立方的逻辑值；

(4)根据步骤(3)的条件，从电路的输出端开始，向输入端的方向按照电路的层次顺序的逆序，遍历电路中的查找表单元，对遍历到的查找表单元重复步骤(3-1)-(3-5)，对符合上述六个条件的后查找表单元LUT₂添加前向冗余互连线；

(5)对上述添加了前向冗余互连线和后向冗余互连线的现场可编程门阵列芯片应用电路进行测试。