[发明专利]X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法无效

专利信息
申请号: 201410304664.7 申请日: 2014-06-30
公开(公告)号: CN104089965A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 范兴义;罗顺明;吴昊;朱玉;毕志伟;李雪;晏燕;张振 申请(专利权)人: 贵州安大航空锻造有限责任公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 561005 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明公开了一种X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法,其步骤为:先将钛合金材料制成相同厚度的钛合金板块;再选择高密度金属材料制成形状、大小备不相同的金属颗粒;将高密度金属颗粒嵌入到钛合金板块的上表面,形成高密度夹杂物;再把钛合金板块叠起来形成模拟工件,并放入X射线检测仪下,在模拟工件的下面放有一成像底片,设定合适的X射线检测参数对其进行X射线检测,当X射线照射到模拟工件并穿过高密度夹杂物时,会将高密度夹杂物反映在成像底片上;根据高密度夹杂物在成像底片上的成像情况可以判断X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度。该方法能精确地可以判断X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度。
搜索关键词: 射线 钛合金 高密度 夹杂 检测 灵敏度 测试 方法
【主权项】:
一种X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)将钛合金材料制成相同厚度的钛合金板块;(2)选择高密度金属材料制成形状、大小备不相同的金属颗粒;(3)将高密度金属颗粒嵌入到钛合金板块的上表面,形成高密度夹杂物;(4)再将嵌入高密度夹杂物的钛合金板块与没有嵌入高密度夹杂物的钛合金板块叠起来形成模拟工件,并将模拟工件放入X射线检测仪下,在模拟工件的下面放有一成像底片,设定合适的X射线检测参数对其进行X射线检测,当X射线照射到模拟工件并穿过高密度夹杂物时会将高密度夹杂物反映在成像底片上;(5)根据高密度夹杂物在成像底片上的成像情况可以判断X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度。
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