[发明专利]X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法

权利要求书

1.一种X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将钛合金材料制成相同厚度的钛合金板块；

(2)选择高密度金属材料制成形状、大小备不相同的金属颗粒；

(3)将高密度金属颗粒嵌入到钛合金板块的上表面，形成高密度夹杂物；

(4)再将嵌入高密度夹杂物的钛合金板块与没有嵌入高密度夹杂物的钛合金板块叠起来形成模拟工件，并将模拟工件放入X射线检测仪下，在模拟工件的下面放有一成像底片，设定合适的X射线检测参数对其进行X射线检测，当X射线照射到模拟工件并穿过高密度夹杂物时会将高密度夹杂物反映在成像底片上；

(5)根据高密度夹杂物在成像底片上的成像情况可以判断X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度。

2.根据权利要求1所述的X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，所属钛合金板块共8块，每块钛合金板块的厚度为10mm。

3.根据权利要求1所述的X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，所述高密度金属材料为钽、钨、钼、铌。

4.根据权利要求1所述的X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，所述金属颗粒的尺寸如下表所示：

5.根据权利要求1所述的X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，所述的高密度夹杂物与成像底片之间距离，通过有高密度夹杂物的钛合金板块与没有高密度夹杂物的钛合金板块的叠放位置来确定。

6.根据权利要求1所述的X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，所述的模拟工件的厚度通过有高密度夹杂物的钛合金板块与没有高密度夹杂物的钛合金板块的总个数来确定。

7.根据权利要求1所述的X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的测试方法，其特征在于，所述X射线对钛合金高密度夹杂物检测灵敏度的确定方法：

其中，高密度夹杂物在模拟工件中的位置关系，包括垂直方向上的位置关系和水平方向上的位置关系，水平方向上的位置可以根据其在成像底片上的成像位置来确定，垂直方向上的位置关系如下：

d=f·r-1r]]>

式中：

d为高密度夹杂物到成像底片的距离，单位mm；

f为X射线检测仪的成像焦距，单位mm；

r为高密度夹杂物在成像底片上的放大倍数，是高密度夹杂物在成像底片上所成“影像”的面积与高密度夹杂物在竖直方向上的实际投影面积的比值。

其中，X射线能够识别的最小高密度夹杂物尺寸以及X射线识别点状和线状高密度夹杂物的难易程度可以根据成像底片上的所显示的高密度夹杂物的数量来确定。