[发明专利]检测触控方法及其光学触控系统有效

专利信息
申请号: 201410254834.5 申请日: 2014-06-10
公开(公告)号: CN105302379B 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 谢佳达;陈裕彦;吕帼闲 申请(专利权)人: 纬创资通股份有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 汤在彦
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了一种检测触控方法及其光学触控系统,该检测触控方法包含有控制一发光元件以及多个光源分时发光;于该多个光源发光期间,利用一反光元件反射该多个光源的光线以及撷取一第一图像;于该发光元件发光期间,撷取一第二图像;以及根据该第一图像以及该第二图像计算该发光元件位于一触控面板上的一第一位置以及该反光元件位于该触控面板上的一第二位置。本发明达到多点触控以及避免鬼点发生的效果。
搜索关键词: 检测 方法 及其 光学 系统
【主权项】:
一种光学触控系统,其特征在于,该光学触控系统包含有:一触控面板;多个光源,用来周期性发光;一发光元件,用来操作于该触控面板上以及于该多个光源不发光时周期性发光;一反光元件,用来操作于该触控面板上以及于该多个光源发光时反射该多个光源的光线;多个镜头,用来于该多个光源发光期间撷取一第一图像以及于该多个光源不发光期间撷取一第二图像;以及一处理单元,包含有:一控制单元,用来控制该多个光源以及该发光元件发光或停止发光;以及一计算单元,用来根据该第一图像以及该第二图像计算该发光元件位于该触控面板上的一第一位置以及该反光元件位于该触控面板上的一第二位置;于该反光元件反射该多个光源的光线期间,该第一图像于该反光元件的图像处产生一电压强度变化,该处理单元根据该电压强度变化计算该反光元件位于该触控面板上的该第二位置;于该发光元件周期性发光期间,该第二图像于该发光元件的图像处产生一电压强度变化,该处理单元根据该电压强度变化计算该发光元件位于该触控面板上的该第一位置。
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