[发明专利]检测触控方法及其光学触控系统有效
申请号: | 201410254834.5 | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN105302379B | 公开(公告)日: | 2017-12-08 |
发明(设计)人: | 谢佳达;陈裕彦;吕帼闲 | 申请(专利权)人: | 纬创资通股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 汤在彦 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方法 及其 光学 系统 | ||
1.一种光学触控系统,其特征在于,该光学触控系统包含有:
一触控面板;
多个光源,用来周期性发光;
一发光元件,用来操作于该触控面板上以及于该多个光源不发光时周期性发光;
一反光元件,用来操作于该触控面板上以及于该多个光源发光时反射该多个光源的光线;
多个镜头,用来于该多个光源发光期间撷取一第一图像以及于该多个光源不发光期间撷取一第二图像;以及
一处理单元,包含有:
一控制单元,用来控制该多个光源以及该发光元件发光或停止发光;以及
一计算单元,用来根据该第一图像以及该第二图像计算该发光元件位于该触控面板上的一第一位置以及该反光元件位于该触控面板上的一第二位置;
于该反光元件反射该多个光源的光线期间,该第一图像于该反光元件的图像处产生一电压强度变化,该处理单元根据该电压强度变化计算该反光元件位于该触控面板上的该第二位置;
于该发光元件周期性发光期间,该第二图像于该发光元件的图像处产生一电压强度变化,该处理单元根据该电压强度变化计算该发光元件位于该触控面板上的该第一位置。
2.如权利要求1所述的光学触控系统,其特征在于,该发光元件还包含一无线模块,用来与该处理单元建立一无线通信。
3.如权利要求1所述的光学触控系统,其特征在于,该处理单元控制该多个光源于多个第一时槽中发光,以及控制该发光元件于多个第二时槽中发光,其中该多个第一时槽以及该多个第二时槽互相交错排列。
4.一种检测触控方法,其特征在于,用于一光学触控系统,该检测触控方法包含有:
控制一发光元件以及多个光源分时发光;
于该多个光源发光期间,利用一反光元件反射该多个光源的光线以及撷取一第一图像;
于该发光元件发光期间,撷取一第二图像;以及
根据该第一图像以及该第二图像计算该发光元件位于一触控面板上的一第一位置以及该反光元件位于该触控面板上的一第二位置;
还包含于该反光元件反射该多个光源的光线期间,于该反光元件的图像处产生一电压强度变化,根据该反光元件的图像计算该反光元件位于该触控面板上的该第二位置包含根据该电压强度变化计算该反光元件位于该触控面板上的该第二位置;
还包含于该发光元件周期性发光期间,于该发光元件的图像处产生一电压强度变化,根据该发光元件的图像计算该发光元件位于该触控面板上的该第一位置包含该根据该电压强度变化计算该发光元件位于该触控面板上的该第一位置。
5.如权利要求4所述的检测触控方法,其特征在于,还包含建立该发光元件与一处理单元间的一无线通信。
6.如权利要求4所述的检测触控方法,其特征在于,控制该发光元件以及该多个光源分时发光包含控制该多个光源于多个第一时槽中发光以及控制该发光元件于多个第二时槽中发光,其中该多个第一时槽以及该多个第二时槽互相交错排列。
7.一种光学触控系统,其特征在于,该光学触控系统包含有:
一触控面板;
多个光源,用来周期性发光;
一发光元件,用来操作于该触控面板上以及持续性发光;
一反光元件,用来操作于该触控面板上以及于该多个光源发光时反射该多个光源的光线;
多个镜头,用来于该多个光源不发光期间撷取一第一图像以及于该多个光源发光期间撷取一第二图像;以及
一处理单元,包含有:
一控制单元,用来控制该多个光源周期性发光;
一比对单元,用来比对该第一图像以及该第二图像并产生一比对结果;以及
一判断单元,用来根据该比对结果判断该发光元件以及该反光元件;
其中该第一图像包含该发光元件的图像,该第二图像包含该反光元件的图像以及该发光元件的图像。
8.如权利要求7所述的光学触控系统,其特征在于,于比对结果指示一物体在该第一图像以及该第二图像中位置不变或移动量小于一门槛值时,该处理单元判断该物体为该发光元件。
9.如权利要求7所述的光学触控系统,其特征在于,于比对结果指示一物体仅出现在该第一图像或该第二图像其中之一时,该处理单元判断该物体为该反光元件。
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