[发明专利]一种横向双扩散金属氧化物半导体场效应管有效
| 申请号: | 201410234519.6 | 申请日: | 2014-05-29 |
| 公开(公告)号: | CN104009090B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
| 发明(设计)人: | 段宝兴;李春来;杨银堂;马剑冲;袁嵩 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
| 代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 胡乐 |
| 地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | 本发明公开一种新的横向双扩散金属氧化物半导体场效应管。该结构包括漂移区下面的掺杂埋层一区、与周期性分块漂移区相间隔存在的掺杂埋层二区、漂移区上面的掺杂埋层三区,其中漂移区受到了四周的掺杂埋层的电荷平衡的作用,可以得到高的击穿电压,由于重掺杂的埋层可以使得漂移区增加浓度,从而降低比导通电阻,并且由于漂移区受到的埋层作用是四个方向的,因此击穿电压和比导通电阻的优化可以得到最佳。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 场效应 | ||
【主权项】:
一种横向双扩散金属氧化物半导体场效应管,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底表面的基区和漂移区;位于所述基区表面的源区;位于漂移区表面的漏区;其特征在于:所述漂移区的上下左右均邻接有重掺杂埋层,所述重掺杂埋层的掺杂类型与半导体衬底相同;所述重掺杂埋层包括:位于半导体衬底表面、漂移区下方的重掺杂埋层一区;位于重掺杂埋层一区表面、漂移区左右两侧的重掺杂埋层二区;位于漂移区和重掺杂埋层二区表面的重掺杂埋层三区;重掺杂埋层的三个区域均与基区和漏区相邻接。
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