[发明专利]样品分子特性谱线分析仪在审

专利信息
申请号: 201410232279.6 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104020111A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 储冬红;彭飞;郭睦庚 申请(专利权)人: 成都中远千叶科技有限公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610100 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 样品分子特性谱线分析仪,其特征在于,主要包括:进样装置,样品导入装置,样品预处理装置,样品微粒化装置,流体控制装置,样品热处理装置,特征谱线分析装置,信号放大装置,信号显示与记录装置,其中,样品导入装置含有样品导流管,该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金,样品微粒化装置含有颗粒降解电极,该电极材料为氧化铌钷合金,流体控制装置含有流体离子筛选板,该筛选板材料为六硅烷溴化镨铹纳米复合材料,特征谱线分析装置含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜,该透镜表面镀有厚度为30μm的偏硅酸氟化镤纳米复合透光膜。
搜索关键词: 样品 分子 特性 分析
【主权项】:
1.样品分子特性谱线分析仪,其特征在于,主要包括:1--进样装置,2--样品导入装置,3--样品预处理装置,4--样品微粒化装置,5--流体控制装置,6--样品热处理装置,7--特征谱线分析装置,8--信号放大装置,9--信号显示与记录装置,其中,样品导入装置(2)含有样品导流管,该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金,样品微粒化装置(4)含有颗粒降解电极,该电极材料为氧化铌钷合金,流体控制装置(5)含有流体离子筛选板,该筛选板材料为六硅烷溴化镨铹纳米复合材料,特征谱线分析装置(7)含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜,该透镜表面镀有厚度为30um的偏硅酸氟化镤纳米复合透光膜。
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