[发明专利]围栅型纳米线晶体管有效
申请号: | 201410145600.7 | 申请日: | 2014-04-08 |
公开(公告)号: | CN103985757B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 顾经纶 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/12 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 王宏婧 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明揭示了一种围栅型纳米线晶体管。包括一圆柱状的主体结构,所述主体结构包括中间部分及位于中间部分两侧的两个端部,围绕中间部分包裹有栅极,形成围栅;两个端部作为源极和漏极;其中,所述主体结构的材料包括硅锗,所述中间部分锗的浓度大于所述两个端部的锗的浓度。本发明的结构中,源漏与沟道的异质结的结构带来了中间沟道部分价带的上移,从而能使空穴的发射速度和迁移率得到提升。 | ||
搜索关键词: | 围栅型 纳米 晶体管 | ||
【主权项】:
一种围栅型纳米线晶体管,包括:一圆柱状的主体结构,所述主体结构包括中间部分及位于中间部分两侧的两个端部,围绕中间部分包裹有栅极,形成围栅;两个端部作为源极和漏极,中间部分作为沟道;其中,所述主体结构的材料包括硅锗,所述中间部分锗的浓度大于所述两个端部的锗的浓度,这样的源极和漏极与沟道的异质结的结构带来了沟道价带的上移,价带的上移使得能带差变大,使空穴的发射速度和迁移率得到提升。
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