[发明专利]增强型、耗尽型和电流感应集成VDMOS功率器件有效
申请号: | 201410135185.7 | 申请日: | 2014-04-04 |
公开(公告)号: | CN103872137B | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 陈利;高耿辉;高伟钧 | 申请(专利权)人: | 厦门元顺微电子技术有限公司;友顺科技股份有限公司;大连连顺电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L27/02 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 361008 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及一种增强型、耗尽型和电流感应集成VDMOS功率器件,包括N型衬底,所述N型衬底上设置有N型外延层,其特征在于所述N型外延层上设置有增强型VDMOS、耗尽型VDMOS和电流感应VDMOS,且它们之间设有隔离结构;本发明将三个VDMOS器件集成在一起,应用组合灵活多样,可用于LED驱动电源、电源适配器、充电器等电路中,不仅有利于系统集成和小型化,而且具有成本低,制成控制简单的优点;本发明在三个VDMOS器件之间采用隔离结构,能有效防止器件之间穿通。本发明具有兼容性好、可靠性高、制造成本低、易产业化等特点。 | ||
搜索关键词: | 增强 耗尽 电流 感应 集成 vdmos 功率 器件 | ||
【主权项】:
一种增强型、耗尽型和电流感应集成VDMOS功率器件,包括N型衬底,所述N型衬底上设置有N型外延层,其特征在于:所述N型外延层上设置有增强型VDMOS、耗尽型VDMOS、电流感应VDMOS和隔离结构,其中三类VDMOS器件共用漏极,增强型VDMOS和电流感应VDMOS共用栅极,所述隔离结构分别设置于所述增强型VDMOS、耗尽型VDMOS和电流感应VDMOS的源极之间;其中,所述增强型VDMOS的栅极和电流感应VDMOS的栅极通过金属共同连接到共用栅极;其中,所述隔离结构包括多晶硅场板,多晶硅场板下的N型外延上还设置有浮空P阱,浮空P阱位于P阱之间,所述多晶硅场板位于P阱的上端且向浮空P阱方向延伸,同时和浮空P阱有交叠;所述的多晶硅场板被二氧化硅介质所覆盖,所述多晶硅场板下设置有栅氧化层和场氧化层;其中,所述的多晶硅场板为两块,且为Z字形;其中,所述的耗尽型VMDOS和电流感应VDMOS版图能位于增强型VDMOS版图内部或者外部。
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