[发明专利]一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统有效
| 申请号： | 201410125625.0 | 申请日： | 2014-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN104165589B | 公开（公告）日： | 2018-06-05 |
| 发明（设计）人： | 裴忠;吴建强;邹伟杰;金宇立 | 申请（专利权）人： | 天通吉成机器技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 杭州千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 赵芳 |
| 地址： | 314400 浙江省嘉兴*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。 | ||
| 搜索关键词： | 磨床 精度测量 输入模块 数控系统 测量 圆光栅 测量报告生成 自动生成系统 自动数据采集 数显变送器 补偿模块 采集数据 精度问题 目标设定 启动模块 输出系统 依次连接 补偿表 上位机 整机 主机 检验 配合 | ||
【主权项】：
一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；其特征在于，还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块；所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°；所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和小数点后位数预输入模块。
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