[发明专利]一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统

说明书

本发明公开了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。

技术领域

本发明涉及一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统。

背景技术

在现有技术中，在利用数控可转位刀片周边磨床在磨削硬质合金数控刀片时，其加工精度是重要的指标；在加工过程中，B轴是周边磨床最主要的轴之一，他的精度直接影响到加工工件(刀片)的精度；而周边磨床内B轴的位置比较特殊，其体积比较小，因此一般的激光干涉仪等设备都无法安装和测量；从而导致B轴的精度无法检测，加工工件无法保证质量；现有的技术中一般只能通过大量试磨的方法来检验精度，这样会带来一旦出现精度问题，更换和安装都比较困难。

发明内容

本发明提出了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并进行适当的补偿。

本发明采用的技术方案是：

一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，其特征在于：所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。

进一步，所述高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。

进一步，所述上位机通过USB口连接数显变送器。

进一步，所述目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和小数点后位数预输入模块。

进一步，所述采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。

进一步，所述自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。

本发明的有益效果：本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。

附图说明

图1是本发明的整体流程示意图；

图2是本发明的目标设定模块示意图；

图3为本发明的采集数据启动模块示意图；

图4为本发明的自动数据采集设定模块示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例来对本发明进行进一步说明，但并不将本发明局限于这些具体实施方式。本领域技术人员应该认识到，本发明涵盖了权利要求书范围内所可能包括的所有备选方案、改进方案和等效方案。

参照图1、图2，一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。

本实施例所述高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。