[发明专利]芯片背面涂覆锡膏的装片方法有效
申请号: | 201410113333.5 | 申请日: | 2014-03-26 |
公开(公告)号: | CN103839839A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 孟浪;徐青青;郭玉兵 | 申请(专利权)人: | 常州银河世纪微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
代理公司: | 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 | 代理人: | 夏海初 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种芯片背面涂覆锡膏的装片方法,以具有充氮阀、抽真空泵和循环风机的烘箱为工艺装备,而其:所述装片的步骤依次是:将芯片背面涂覆锡膏并与框架组装后送至烘箱内,而烘箱进行抽真空充氮;开启真空阀,烘烤温度在150~220℃范围内,此时,锡膏所含的溶剂和助焊剂气化,并随着氮气被真空泵抽离;待烘烤温度提高至250~300℃范围内时,锡膏所含的锡球颗粒被熔化;关闭烘箱的充氮阀,并继续抽真空;将烘箱内的温度进行降温,关闭真空阀,并进行充氮,使烘箱内的内压为1个标准大气压,则完成芯片背面与框架焊接的装片工作。本发明具有工艺合理,生产成本低,且芯片的焊接空洞率小于1%,转角可控制小于1°范围内等优点。 | ||
搜索关键词: | 芯片 背面 涂覆锡膏 方法 | ||
【主权项】:
一种芯片背面涂覆锡膏的装片方法,以具有充氮阀、装有真空阀的抽真空泵和内循环风机的烘箱为工艺装备,以芯片和芯片框架为出发工件,其特征在于:所述装片的步骤依次是:步骤a、将芯片背面涂覆锡膏并与芯片框架组装后送至烘箱内,打开真空阀进行抽真空,而充氮阀关闭,待烘箱的内压在0.05~0.15Pa范围内时,再打开充氮阀注入氮气,令烘箱的内压维持在0.5~0.6Pa范围内,并开启内循环风机;步骤b、对烘箱内进行升温对工件进行烘烤,而烘烤温度在150~220℃范围内,此时,锡膏所含的溶剂和助焊剂气化,并随着氮气被抽真空泵抽离;步骤c、在所述工件经步骤b将锡膏的溶剂和助焊剂气化并被抽离情况下,将烘箱内的温度持续进行升温对工件进行烘烤,待烘烤温度提高至250~300℃范围内时,所述锡膏所含的锡球颗粒被熔化;步骤d、在所述工件经步骤c将锡膏的锡球颗粒被熔化情况下,停止加热并关闭烘箱的充氮阀和内循环风机,且继续抽真空,待烘箱的内压在0.05~0.15Pa范围内时,再次打开充氮阀和内循环风机,令烘箱的内压保持在0.5~0.6Pa范围内;步骤e、在所述工件经步骤d后,将烘箱内的温度进行降温,待烘箱内的温度在15~25℃范围内时,关闭真空阀,使得烘箱内的内压降为1个标准大气压,尔后关闭充氮阀和内循环风机,则完成芯片背面与芯片框架焊接的装片工作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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