[发明专利]密封面缺陷三维检测方法有效
申请号: | 201410106796.9 | 申请日: | 2014-03-21 |
公开(公告)号: | CN103868929B | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 陈嘉杰;张涛;蒋良中;刘青松;余冰;钱建华;李腾龙;孙绮林;李晓;袁任重 | 申请(专利权)人: | 中广核研究院有限公司;中国广核集团有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/22;G01B11/02 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司44202 | 代理人: | 张艳美,向霞 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区上步中路*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种密封面缺陷三维检测方法,包括获取密封面上带划痕的图片;根据带划痕的图片获取划痕的长度和初始宽度;根据初始宽度确定扫描路径;根据扫描路径规划扫描轨迹;沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度。与现有技术相比,本发明的密封面缺陷三维检测方法先获取密封面上所有带划痕的图片,从而基本上杜绝了细微划痕的漏检情况;之后根据该图片获取划痕长度及初始宽度,再根据初始宽度确定扫描路径,继而根据扫描路径规划扫描轨迹,最后沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度,从而实现了对密封面缺陷的三维检测,同时提高了测量精度,且实现了对密封面三维缺陷的尺寸量化检测。 | ||
搜索关键词: | 密封 缺陷 三维 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种密封面缺陷三维检测方法,其特征在于,包括:确定密封面的缺陷位置;根据所述缺陷位置获取所述密封面上带划痕的图片;通过图像后处理软件并调用带划痕的图片获取所述划痕的长度和初始宽度;根据所述初始宽度确定扫描路径;根据所述扫描路径规划扫描轨迹;沿所述扫描轨迹对所述划痕进行扫描以确定所述划痕的深度及最终宽度;其中,确定密封面的缺陷位置具体包括:采用标准黑白方格板为工业相机进行标定;启动搭载有工业相机的移载小车及旋转编码器;根据所述旋转编码器所记录的脉冲数的增量触发工业相机拍摄密封面图片;对所述密封面图片进行二值化、发胀、关联及边缘处理;判断经处理后的所述密封面图片是否存在缺陷;所述工业相机根据判断结果发送控制信号至就地控制柜,并将带缺陷的所述密封面图片发送至上位控制机;所述就地控制柜根据所述控制信号记录所述旋转编码器的当前脉冲数,并将所述当前脉冲数发送至所述上位控制机;所述上位控制机将所述当前脉冲数转换为所述密封面的缺陷位置。
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