[发明专利]密封面缺陷三维检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，更具体地涉及一种密封面缺陷三维检测方法。

背景技术

当前，在对密封面进行三维缺陷检测时，主要采用目测法和在线视频观测法两种方法。但，该两种方法存在以下缺陷：(1)目测法的检测结果易受操作人员主观判断影响，从而影响测量精度；(2)在线视频观测法则容易漏检细微划痕；(3)以上两种检测方法只能实现密封面缺陷的定性判断，无法将缺陷尺寸量化。

此外，现代核电站中大量设备在维护中需要打磨和抛光，尤其是高密封要求设备(如压力容器)，打磨抛光后还需进行缺陷检测，以确保密封面良好的密封性。若采用上述检测方法对压力容器的密封面进行缺陷三维检测，严重地增加了操作人员受辐射的剂量。

因此，急需一种改进的密封面缺陷三维检测方法来克服上述缺陷。

发明内容

本发明的目的是提供一种密封面缺陷三维检测方法，以提高测量精度，基本上杜绝细微划痕的漏检情况，且能实现对密封面三维缺陷的尺寸量化检测。

为实现上述目的，本发明提供了一种密封面缺陷三维检测方法，包括：

获取密封面上带划痕的图片；

根据带划痕的图片获取所述划痕的长度和初始宽度；

根据所述初始宽度确定扫描路径；

根据所述扫描路径规划扫描轨迹；

沿所述扫描轨迹对所述划痕进行扫描以确定所述划痕的深度及最终宽度

与现有技术相比，本发明的密封面缺陷三维检测方法先获取密封面上所有带划痕的图片，从而基本上杜绝了细微划痕的漏检情况；之后根据该图片获取划痕长度及初始宽度，再根据初始宽度确定扫描路径，继而根据扫描路径规划扫描轨迹，最后沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度，从而实现了对密封面缺陷的三维检测，同时提高了测量精度，且实现了对密封面三维缺陷的尺寸量化检测。

通过以下的描述并结合附图，本发明将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明的实施例。

附图说明

图1为本发明密封面三维缺陷检测方法的主流程图。

图2为对压力容器密封面三维缺陷检测的硬件结构框图。

图3为对压力容器密封面三维缺陷检测的方法流程图。

图4为图3所述步骤S202的子流程图。

图5为采用标准黑白方格板为工业相机进行标定的示意图。

图6为对图片进行处理前后的效果图。

图7为图4所述步骤S2025的原理图。

图8a及图8b为图3所述步骤S203的子流程图。

图9为步骤S203的原理图。

图10a为粗划痕的检测曲线图。

图10b为细划痕的检测曲线图。

图11为采用算法1确定扫描路径时的示意图。

图12为采用算法2确定扫描路径时的示意图。

图13为将位移量转换成X轴和Y轴电机的脉冲信号的原理图。

具体实施方式

现在参考附图描述本发明的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。

请参考图1，本发明密封面三维缺陷检测方法包括以下步骤：

S101，获取密封面上带划痕的图片；

S102，根据带划痕的图片获取划痕的长度和初始宽度；

S103，根据初始宽度确定扫描路径；

S104，根据扫描路径规划扫描轨迹；

S105，沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度。

与现有技术相比，本发明的密封面缺陷三维检测方法先获取密封面上所有带划痕的图片，从而基本上杜绝了细微划痕的漏检情况；之后根据该图片获取划痕长度及初始宽度，再根据初始宽度确定扫描路径，继而根据扫描路径规划扫描轨迹，最后沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度，从而实现了对密封面缺陷的三维检测，同时提高了测量精度，且实现了对密封面三维缺陷的尺寸量化检测。