[发明专利]密封面缺陷三维检测方法

权利要求书

1.一种密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，包括：

获取密封面上带划痕的图片；

根据带划痕的图片获取所述划痕的长度和初始宽度；

根据所述初始宽度确定扫描路径；

根据所述扫描路径规划扫描轨迹；

沿所述扫描轨迹对所述划痕进行扫描以确定所述划痕的深度及最终宽度。

2.如权利要求1所述的密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，获取密封面上带划痕的图片之前还包括：

确定所述密封面的缺陷位置，以根据所述缺陷位置获取密封面上带划痕的图片。

3.如权利要求2所述的密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，确定密封面的缺陷位置具体包括：

采用标准黑白方格板为工业相机进行标定；

启动搭载有工业相机的移载小车及旋转编码器；

根据所述旋转编码器所记录的脉冲数的增量触发工业相机拍摄密封面图片；

对所述密封面图片进行二值化、发胀、关联及边缘处理；

判断经处理后的所述密封面图片是否存在缺陷；

所述工业相机根据判断结果发送控制信号至就地控制柜，并将带缺陷的所述密封面图片发送至上位控制机；

所述就地控制柜根据所述控制信号记录所述旋转编码器的当前脉冲数，并将所述当前脉冲数发送至所述上位控制机；

所述上位控制机将所述当前脉冲数转换为所述密封面的缺陷位置。

4.如权利要求3所述的密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，所述上位控制机将所述当前脉冲数转换为所述密封面的缺陷位置之后还包括：

将带缺陷的所述密封面图片与所述密封面的缺陷位置一一对应保存。

5.如权利要求4所述的密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，判断经处理后的所述密封面图片是否存在缺陷具体包括：

调用模板图片与经处理后的所述密封面图片进行匹配；

判断偏差是否处于预设范围。

6.如权利要求2所述的密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，根据所述缺陷位置获取带划痕的图片具体包括：

采用标准黑白方格板为工业相机进行标定；

搭载有工业相机的检测设备根据所述缺陷位置进行就位准备；

所述工业相机根据所述密封面的工作尺寸进行分幅拍照；

对所拍摄的图片进行二值化、发胀、关联及边缘处理；

判断经处理后的图片是否存在划痕；

所述工业相机根据判断结果发送控制信号至就地控制柜，并将带划痕的图片发送至上位控制机；

所述就地控制柜根据所述控制信号记录所述检测设备X轴和Y轴的位置信息，并将该位置信息发送至上位控制机；

所述上位控制机将X轴和Y轴的位置信息与带划痕的图片一一对应保存。

7.如权利要求6所述的密封面缺陷三维检测方法，其特征在于，根据带划痕的图片获取所述划痕的长度和初始宽度之后还包括：

所述上位控制机将所述划痕的长度和初始宽度与带划痕的图片一一对应保存。

8.如权利要求7所述的密封面三维检测方法，其特征在于，所述上位控制机将所述划痕的长度和初始宽度与带划痕的图片一一对应保存之后还包括：

调整位移传感器的接收头与所述密封面的距离以使得所述接收头处于测量量程的中间位置；

调用带划痕的图片并在该图片的划痕上点选需测量的特征点。

9.如权利要求8所述的密封面三维检测方法，其特征在于，根据所述初始宽度确定扫描路径具体包括：

判断所述划痕的初始宽度是否大于0.1毫米；

若是则选择算法1确定所述扫描路径，反之，则选择算法2确定所述扫描路径。