[发明专利]一种基于广义统一模型的折反射相机自标定方法有效
申请号: | 201410102724.7 | 申请日: | 2014-03-19 |
公开(公告)号: | CN103886595A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 项志宇;戴行;周炎兵 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林怀禹 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于广义统一模型的折反射相机自标定方法。该方法包括以下步骤:在同一场景不同位置使用折反射相机获取两幅左右成像清晰的折反射全景图;提取左右两图的SIFT特征点,并进行特征点匹配;初始化广义统一模型的内参;使用极几何计算出本质矩阵E,在计算E的过程中使用RANSAC提高精度,同时去除外点;使用非线性优化LevenbergMarquardt方法,最小化特征点的重投影误差;不断的优化内参,直到重投影误差小于所设定的阈值,优化出鲁棒和精确的结果。本发明仅需两幅不同位置的图即可标定广义统一模型的内参和两个位置之间的关系,标定过程完全自动,具有方便快捷,操作简单,精度较高的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 广义 统一 模型 反射 相机 标定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于广义统一模型的折反射相机自标定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1)在同一场景不同位置使用折反射相机获取两幅左右成像清晰的折反射全景图,要求两图中有场景重复的部分,不需要对环境做特殊的设置,也不需要任何标定模板;步骤2)提取左右两图的SIFT特征点,并进行特征点匹配,得到图像上n对匹配的特征点对
和
i=1..n,n对特征点对中存在误配点;步骤3)初始化广义统一模型的内参;步骤4)使用极几何计算出本质矩阵E,在计算E的过程中使用RANSAC提高精度,同时去除外点;步骤5)使用非线性优化Levenberg Marquardt方法,最小化特征点的重投影误差,从而优化出内参;步骤6)重新回到步骤4),循环步骤4)和步骤5),不断的优化内参,同时得到更多的内点,直到重投影误差小于所设定的阈值,优化出鲁棒和精确的结果。
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