[发明专利]MEMS传感器的加工方法有效
申请号: | 201410085898.7 | 申请日: | 2014-03-10 |
公开(公告)号: | CN103832967A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 颜毅林;徐元俊;戴竝盈;孙钧;刘伟 | 申请(专利权)人: | 上海先进半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 徐洁晶 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种MEMS传感器的加工方法,包括:提供硅衬底,在其正、背面分别依次形成刻蚀阻挡层、第一电极层;对衬底正面的第一电极层作图形化;在其上分别依次形成牺牲层、第二电极层;对衬底正面的第二电极层作图形化;透过图形化的第二电极层刻蚀牺牲层形成接触孔,并在接触孔底部和第二电极层上分别形成金属接触;从衬底的背面依次刻蚀第二电极层、牺牲层、第一电极层及刻蚀阻挡层,并继续刻蚀衬底直至正面的刻蚀阻挡层才停止,形成开口向下的深槽;在衬底的正面上方涂覆光刻胶作保护,留出后续需要被刻蚀牺牲层的区域;透过图形化的第二电极层刻蚀牺牲层,并去除深槽底部的刻蚀阻挡层。本发明简化了工艺步骤,保证顺利流片并实现良好的成品率。 | ||
搜索关键词: | mems 传感器 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种MEMS传感器的加工方法,包括步骤:A.提供硅衬底(100);B.在所述硅衬底(100)的正面和背面分别形成刻蚀阻挡层(102);C.在所述刻蚀阻挡层(102)上分别形成第一电极层(104);D.对所述硅衬底(100)正面的所述第一电极层(104)作图形化;E.在所述第一电极层(104)上分别形成牺牲层(106),所述牺牲层(106)会嵌入所述硅衬底(100)正面的所述第一电极层(104)中;F.在所述牺牲层(106)上分别形成第二电极层(108);G.对所述硅衬底(100)正面的所述第二电极层(108)作图形化;H.从所述硅衬底(100)的正面透过图形化的所述第二电极层(108)刻蚀所述牺牲层(106)至所述第一电极层(104)停止,形成接触孔(109),并在所述接触孔(109)底部和所述第二电极层(108)上分别形成金属接触(110);I.从所述硅衬底(100)的背面依次刻蚀所述第二电极层(108)、所述牺牲层(106)、所述第一电极层(104)以及所述刻蚀阻挡层(102),并继续刻蚀所述硅衬底(100)直至所述硅衬底(100)正面的所述刻蚀阻挡层(102)才停止,在所述硅衬底(100)中形成一开口向下的深槽(112);J.在所述硅衬底(100)的正面上方涂覆光刻胶(113)作保护,留出后续需要被刻蚀的所述牺牲层(106)的区域;K.从所述硅衬底(100)的正面透过图形化的所述第二电极层(108)刻蚀所述牺牲层(106),并去除所述深槽(112)底部的所述刻蚀阻挡层(102),在去除所述光刻胶(113)并干燥后,形成所述MEMS传感器。
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