[发明专利]一种红外光学遥感器杂散辐射测试装置有效
| 申请号： | 201410073599.1 | 申请日： | 2014-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN103868679A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 阮宁娟;苏云;郭崇玲;吴立民;张鹏斌;张庭成;周峰 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种红外光学遥感器杂散辐射测试装置，该装置可分别测试红外光学遥感器的内杂散辐射和外杂散辐射，该装置既可适用于对面源探测的常温红外光学遥感器的杂散辐射测试，又可适用于对点源探测的低温红外光学遥感器测试，该测试设备功能一体化程度较高，可用于验证红外光学遥感器杂散辐射仿真分析结果，以保证红外遥感器的信噪比满足设计要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 光学 遥感 器杂散 辐射 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：包括闸门阀（2）、挡光板（3）、制冷器（4）、准直反射镜（5）、真空仓（6）、离轴抛物反射镜（7）、折转镜（8）、第一光束整形装置（9）、光学平台（10）、光源（11）、第二光束整形装置（12）、二维转台（13）和辐照度计（14）；被测装置（1）由闸门阀（2）连接在真空仓（6）上，挡光板（3）、制冷器（4）、准直反射镜（5）、离轴抛物反射镜（7）、折转镜（8）均位于真空仓（6）中，被测装置（1）和真空仓（6）、第一光束整形装置（9）、第二光束整形装置（12）、光源（11）位于光学平台（10）上，准直反射镜（5）位于二维转台（13）上；所述被测装置（1）为一个红外光学遥感器的光机镜头组件，该组件的焦平面处放置辐照度计（14）;测试过程中整个测试装置需放置在黑室（15）内,在测试内部杂散辐射时，将制冷器（4）移动至被测装置（1）的视场以内；当测试被测装置（1）的外杂散辐射时，制冷器（4）位于被测装置（1）的有效测试光路之外，其作用为对真空仓（6）的仓体内部进行制冷；当测试被测装置（1）内部杂散辐射时，制冷器（4）平移进入被测装置（1）的有效测试光路之内，对被测装置（1）制冷的同时遮挡进入被测装置（1）视场内的所有光线；且制冷器（4）需进行粗糙化处理并镀上光谱吸收率高达0.85以上的吸收膜，使制冷器（4）表面对光具有强吸收性。
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