[发明专利]一种红外光学遥感器杂散辐射测试装置

权利要求书

1.一种红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：包括闸门阀（2）、挡光板（3）、制冷器（4）、准直反射镜（5）、真空仓（6）、离轴抛物反射镜（7）、折转镜（8）、第一光束整形装置（9）、光学平台（10）、光源（11）、第二光束整形装置（12）、二维转台（13）和辐照度计（14）；被测装置（1）由闸门阀（2）连接在真空仓（6）上，挡光板（3）、制冷器（4）、准直反射镜（5）、离轴抛物反射镜（7）、折转镜（8）均位于真空仓（6）中，被测装置（1）和真空仓（6）、第一光束整形装置（9）、第二光束整形装置（12）、光源（11）位于光学平台（10）上，准直反射镜（5）位于二维转台（13）上；所述被测装置（1）为一个红外光学遥感器的光机镜头组件，该组件的焦平面处放置辐照度计（14）;

测试过程中整个测试装置需放置在黑室（15）内,在测试内部杂散辐射时，将制冷器（4）移动至被测装置（1）的视场以内；当测试被测装置（1）的外杂散辐射时，制冷器（4）位于被测装置（1）的有效测试光路之外，其作用为对真空仓（6）的仓体内部进行制冷；当测试被测装置（1）内部杂散辐射时，制冷器（4）平移进入被测装置（1）的有效测试光路之内，对被测装置（1）制冷的同时遮挡进入被测装置（1）视场内的所有光线；且制冷器（4）需进行粗糙化处理并镀上光谱吸收率高达0.85以上的吸收膜，使制冷器（4）表面对光具有强吸收性。

2.根据权利要求1所述的红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：所述制冷器（4）采用液氮进行制冷，制冷温度达100K以下，且真空舱内为密闭不透光的黑色背景。

3.根据权利要求1所述的红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：所述真空仓体（6）为圆柱体，横截面直径达1米以上。

4.根据权利要求1所述的红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：所述闸门阀（2）的口径达0.5米以上。

5.根据权利要求1所述的红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：所述准直反射镜（5）口径达0.5米以上，准直反射镜（5）的二维旋转范围是侧摆角达-90°～90°，俯仰角达-90°～90°。

6.根据权利要求1所述的红外光学遥感器杂散辐射测试装置，其特征在于：所述的红外辐照度计（14）的测量波长为1～12μm，能够测量所有达到红外光学遥感器焦面处的辐照度，且其辐照度灵敏度高于红外光学遥感器本身的探测器。