[发明专利]晶体硅型太阳能电池及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201410039153.7 申请日: 2014-01-27
公开(公告)号: CN103985781A 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 大泽笃史 申请(专利权)人: 大日本网屏制造株式会社
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/042
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张永康;向勇
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种使载流子的再结合速度充分降低、同时可以廉价地制造的晶体硅型太阳能电池及其制造方法。在背面电极层和第1半导体层之间形成具有5~30nm的膜厚的第2钝化膜。然后,通过烧成,背面电极层的电极材料通过第2钝化膜,扩散至第1半导体层,由此使第1半导体层与背面电极层导通,同时在第2钝化膜和第1半导体层之间形成具有高于第1半导体层的第1导电型杂质浓度的第1导电型高浓度半导体层。因此,不需要光刻法所代表的电极的图案化(不会增加制造成本),可以充分降低载流子的再结合速度。
搜索关键词: 晶体 太阳能电池 及其 制造 方法
【主权项】:
一种晶体硅型太阳能电池,其具备:将背面电极层、第1导电型的第1半导体层、第2导电型的第2半导体层、第1钝化膜和表面电极从受光侧的第1主面的相反侧的第2主面侧起依次层叠而形成的单元结构,其特征在于,在所述背面电极层与所述第1半导体层之间形成具有5~30nm的膜厚的第2钝化膜,所述背面电极层的电极材料通过所述第2钝化膜扩散至所述第1半导体层,由此使所述第1半导体层和所述背面电极层导通,并且在所述第2钝化膜和所述第1半导体层之间形成具有高于所述第1半导体层的第1导电型杂质浓度的第1导电型的高浓度半导体层。
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