[发明专利]晶体硅型太阳能电池及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201410039153.7 申请日: 2014-01-27
公开(公告)号: CN103985781A 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 大泽笃史 申请(专利权)人: 大日本网屏制造株式会社
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/042
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张永康;向勇
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 晶体 太阳能电池 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种晶体硅型太阳能电池,其具备:将背面电极层、第1导电型的第1半导体层、第2导电型的第2半导体层、第1钝化膜和表面电极从受光侧的第1主面的相反侧的第2主面侧起依次层叠而形成的单元结构,

其特征在于,

在所述背面电极层与所述第1半导体层之间形成具有5~30nm的膜厚的第2钝化膜,

所述背面电极层的电极材料通过所述第2钝化膜扩散至所述第1半导体层,由此使所述第1半导体层和所述背面电极层导通,并且在所述第2钝化膜和所述第1半导体层之间形成具有高于所述第1半导体层的第1导电型杂质浓度的第1导电型的高浓度半导体层。

2.根据权利要求1所述的晶体硅型太阳能电池,其特征在于,所述第1钝化膜具有防止光反射性。

3.根据权利要求1或2所述的晶体硅型太阳能电池,其特征在于,所述第2钝化膜以氮化硅作为主要要素。

4.根据权利要求3所述的晶体硅型太阳能电池,其特征在于,所述第2钝化膜的折射率是2.4以上。

5.一种晶体硅型太阳能电池的制造方法,其具备下述工序:

(a)pn结形成工序,该工序在第1导电型的半导体硅基板的两主面中,从受光面侧的第1主面侧导入第2导电型的杂质,由此在所述基板内形成第1导电型的第1半导体层与存在于该第1半导体层上的第2导电型的第2半导体层的pn结;

(b)钝化膜形成工序,该工序在所述第1主面上形成第1钝化膜,并且在所述基板的第2主面上形成第2钝化膜;

(c)电极形成工序,该工序在所述第1钝化膜上形成表面电极层,并且在所述第2钝化膜上形成背面电极层;以及

(d)烧成工序,该工序烧成所述表面电极层和所述背面电极层,

其特征在于,

在所述(b)工序中成膜的所述第2钝化膜的膜厚是在5~30nm的范围内,

所述(d)工序具备:

d-1)导通工序,该工序加热所述表面电极层,使该表面电极层的电极材料贯穿所述第1钝化膜的一部分而到达所述第2半导体层,通过该到达使所形成的表面电极与所述第2半导体层导通;以及

d-2)扩散工序,该工序加热所述背面电极层,使该背面电极层的电极材料通过所述第2钝化膜扩散至所述第1半导体层,由此使所述第1半导体层与所述背面电极层导通,并且在所述第2钝化膜与所述第1半导体层之间形成具有高于所述第1半导体层的第1导电型杂质浓度的第1导电型的高浓度半导体层。

6.根据权利要求5所述的晶体硅型太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述第1钝化膜具有防止光反射性。

7.根据权利要求5或6所述的晶体硅型太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述第2钝化膜以氮化硅作为主要要素。

8.根据权利要求7所述的晶体硅型太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述第2钝化膜的折射率是2.4以上。

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