[发明专利]光介质伺服跟踪有效
| 申请号： | 201380068654.1 | 申请日： | 2013-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN104903958B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | F·马纳德 | 申请（专利权）人： | 甲骨文国际公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/003 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 边海梅 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种光介质存储系统，包括从光介质的轨道中读取数据标记、检测光学拾取单元和数据标记之间的相对位置、及检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置的光学拾取单元。该存储系统还包括致动器，和基于两个检测到的相对位置命令致动器来放置光学拾取单元的控制器。 | ||
| 搜索关键词： | 介质 伺服 跟踪 | ||
【主权项】：
1.一种光介质存储系统，包括：光学拾取单元，所述光学拾取单元被配置为：从光介质的轨道中读取数据标记，检测光学拾取单元和数据标记之间的相对位置，产生指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的差分相位检测跟踪信号，检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置，以及产生指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的主推挽跟踪信号，所述光学拾取单元还被配置为过滤掉差分相位检测跟踪信号的频率高于阈值频率的频率内容和过滤掉主推挽跟踪信号的频率小于阈值频率的频率内容；致动器；及控制器，所述控制器被编程为命令致动器基于检测到的两个相对位置按照过滤后的差分相位检测跟踪信号和过滤后的主推挽跟踪信号的组合来放置光学拾取单元。
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