[发明专利]光介质伺服跟踪

说明书

一种光介质存储系统，包括从光介质的轨道中读取数据标记、检测光学拾取单元和数据标记之间的相对位置、及检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置的光学拾取单元。该存储系统还包括致动器，和基于两个检测到的相对位置命令致动器来放置光学拾取单元的控制器。

技术领域

本公开内容涉及光介质伺服系统。

背景技术

光带是数据存储介质。在某些例子中，它可以采用长窄条的形式，其上可以写入图案并且从中可以读取图案。相对于磁带，光带可以促进更高的数据传输率、更大的存储容量并减少存取时间。此外，由于光带利用不接触带记录表面的光学拾取单元(optical pickupunit)来写和读，因此它会比磁带更耐用。

发明内容

光介质存储系统包括光学拾取单元、致动器和控制器。光学拾取单元从光介质的轨道中读取数据标记、检测光学拾取单元和数据标记之间的相对位置、以及检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置。控制器基于检测到的两个相对位置命令致动器放置光学拾取单元。光学拾取单元可以产生指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的差分相位检测跟踪信号。光学拾取单元可以产生指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的主推挽跟踪信号(main push pull tracking signal)。光学拾取单元可以过滤掉差分相位检测跟踪信号的频率大于阈值频率的频率内容并且过滤掉主推挽跟踪信号的频率小于阈值频率的频率内容。光学拾取单元可以组合过滤后的差分相位检测跟踪信号和过滤后的主推挽跟踪信号，以产生混合跟踪信号。控制器可以命令致动器基于检测到的相对位置按照混合跟踪信号来放置光学拾取单元。轨道可以通过槽脊(1and)和沟槽(groove)来界定。检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置可以包括检测光学拾取单元与槽脊和沟槽的边缘之间的相对位置。光介质可以是光带。

一种用于控制光学拾取单元的方法可以包括检测光学拾取单元和光介质的轨道内的数据标记之间的相对位置、检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置、以及基于检测到两个相对位置放置光学拾取单元。该方法还可以包括产生指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的差分相位检测跟踪信号。该方法还可以包括产生指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的主推挽跟踪信号。该方法还可以包括过滤掉差分相位检测跟踪信号的频率大于阈值频率的频率内容和过滤掉主推挽跟踪信号的频率小于阈值频率的频率内容。该方法还可以包括组合过滤后的差分相位检测跟踪信号和过滤后的主推挽跟踪信号，以产生混合跟踪信号。基于检测到的相对位置放置光学拾取单元可以包括处理混合跟踪信号。轨道可以通过槽脊和沟槽来界定。检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置可以包括检测光学拾取单元与槽脊和沟槽的边缘之间的相对位置。光介质可以是光带。

一种光介质系统包括光学拾取单元。光学拾取单元包括配置为产生激光束以从光介质的轨道中读取数据标记的激光二极管、配置为检测指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的数据和指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的数据的多个检测器、以及配置为基于指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的数据产生差分相位检测跟踪信号的电路系统。光学拾取单元还包括配置为基于指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的数据产生主推挽跟踪信号的电路系统、配置为过滤掉差分相位检测跟踪信号的大于阈值的频率内容的滤波器、配置为过滤掉主推挽跟踪信号的小于阈值的频率内容的另一个滤波器、以及配置为组合过滤后的信号以产生混合跟踪信号的电路系统。轨道可以通过槽脊和沟槽来界定。检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置可以包括检测光学拾取单元与槽脊和沟槽的边缘之间的相对位置。光介质可以是光带。

附图说明

图1是可重写光介质和配置为产生主推挽(MPP)或径向推挽跟踪信号的光学拾取单元的示意图。

图2是示例MPP跟踪信号的曲线图。

图3是只读光介质和配置为产生差分相位检测(DPD)跟踪信号的光学拾取单元的示意图。

图4是示例的DPD跟踪信号的曲线图。