[发明专利]简化校准的陀螺仪以及陀螺仪的简化校准方法在审
| 申请号： | 201380067879.5 | 申请日： | 2013-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN105074384A | 公开（公告）日： | 2015-11-18 |
| 发明（设计）人： | 阿诺·瓦尔特 | 申请（专利权）人： | 原子能和替代能源委员会 |
| 主分类号： | G01C19/5726 | 分类号： | G01C19/5726;G01C19/5762;G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 王琳;武晨燕 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种陀螺仪，该陀螺仪包括在激励下运动的质量块和在检测中运动的质量块、用于在第一方向上向激励质量块施加激励信号的装置、用于对检测质量块在与第一方向垂直的第二方向上的运动进行检测的装置和用于对激励质量块在第二方向上的运动进行检测的装置以及用于处理由对检测质量块的运动进行检测的装置和对激励质量块在第二方向上的运动进行检测的装置所发出的检测信号的处理装置(I、II、II')，从而获得相位偏置(Bi)、正交偏置(Bq)和放大因数(A)。 | ||
| 搜索关键词： | 简化 校准 陀螺仪 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种陀螺仪，包括：至少一个激励振荡器，包括悬挂在衬底(2)上的至少一个激励质量块(ME)，所述激励质量块具有单个激励运动方向；至少一个检测振荡器，包括悬挂在所述激励质量块上的至少一个检测质量块(MD)，所述检测质量块能够沿所述激励方向并且沿与所述激励方向垂直的检测方向运动；激励装置，用于在所述激励运动方向上激励所述激励质量块(ME)；第一检测装置(10)，用于对所述检测质量块(MD)沿所述检测方向的运动进行检测并提供第一检测信号，所述陀螺仪进一步包括：第二检测装置(14)，用于对所述激励质量块(ME)沿所述检测方向的运动进行检测并提供第二检测信号；以及处理装置，用于处理所述第一检测信号和所述第二检测信号，以便确定所述陀螺仪承受的转速并提供所述陀螺仪的至少一个校准参数。
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