[发明专利]高电压器件的电容测量有效
| 申请号： | 201380059762.2 | 申请日： | 2013-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN104871019B | 公开（公告）日： | 2017-06-23 |
| 发明（设计）人： | M·A·谢弗鲁莱 | 申请（专利权）人： | SEM技术公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供促进高电压器件的电容测量的系统和方法，同时防护在测量中涉及到的有源器件免受高电压影响。该系统和方法使用电容器来存储高电压使得有源器件不会经受高电压。重置器件的布置确保了有源器件不受高电压影响。 | ||
| 搜索关键词： | 电压 器件 电容 测量 | ||
【主权项】：
一种电容测量系统，包括：放大器，包括正输入、负输入和输出；第一电容器，被连接到所述放大器的负输入和具有未知电容的外部器件，其中所述第一电容器存储第一电压；第二电容器，被连接到所述放大器的输出和所述外部器件，其中所述第二电容器存储所述第一电压；电压源器件，将第二电压提供给所述放大器的正输入；重置器件，连接所述放大器的输出和所述放大器的负输入；以及检测器器件，测量作为电压源器件所提供的所述第二电压的变化的函数且作为所述外部器件的未知电容的函数的所述放大器的输出电压的变化，其中所述第一电压高于所述第二电压。
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