[实用新型]一种激光器光束质量测量装置有效
| 申请号： | 201320716791.9 | 申请日： | 2013-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN203551251U | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 李玉瑶;罗宽;王菲;田明;车英;杨进华 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 130022 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种激光器光束质量测量装置，该装置包括光强调节器（1）、聚焦光学系统（2）、中性衰减片（3）、图像传感器（4）、调整架（5）、一维运动工作台（6）、控制器（7）和上位机（8）。该装置采用350-1600nm波段超消色差光学系统作为聚焦光学系统，其对工作波段范围内任一波长的焦移小于0.2mm，测量时不需要从软件上再进行重新标定，测量误差小，测量步骤简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光器 光束 质量 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种激光器光束质量测量装置，其特征在于：该装置包括光强调节器（1）、聚焦光学系统（2）、中性衰减片（3）、图像传感器（4）、调整架（5）、一维运动工作台（6）、控制器（7）和上位机（8）；所述的光强调节器（1）、聚焦光学系统（2）、中性衰减片（3）和图像传感器（4）依次设置在同一水平光轴上；所述的光强调节器（1）为两个中性吸收型材料制作的直角光楔构成，此两个光楔斜面和直角面分别平行放置；所述的聚焦光学系统（2）为超消色差光学系统，口径为20~40mm，其光谱工作范围为350~1600nm，焦距为200~400mm；所述的中性衰减片（3）为中性吸收型材料制作的平板；所述的图像传感器（4）优选CCD相机或CMOS相机；所述的调整架（5）为四维调整架；所述的一维运动工作台（6）为电控一维运动工作台；所述的控制器（7）为一种激光器光束质量测量装置的控制中心；所述的上位机（8）为计算机。
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