[实用新型]一种热像仪可用的非均匀校正装置有效

专利信息
申请号: 201320707960.2 申请日: 2013-11-11
公开(公告)号: CN203732159U 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 万继敏;王云强;李学智;周健 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01J5/06 分类号: G01J5/06
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型属于光电产品应用技术领域技术领域,具体涉及一种热像仪可用的非均匀校正装置。本实用新型的热像仪可用的非均匀校正装置,包括半导体制冷器和温度显示系统:温度显示系统用于显示半导体制冷器的温度,半导体制冷器能够通过改变自身输入电流的大小为热像仪提供不同的均匀温度面。本实用新型的非均匀校正装置能够在热像仪进行两点非均匀性校正时提供不同温度的两个均匀温度面,使热像仪在复杂气象条件下的外场测试时,能够形成更高的成像质量。
搜索关键词: 一种 热像仪 可用 均匀 校正 装置
【主权项】:
一种热像仪可用的非均匀校正装置,包括半导体制冷器和温度显示系统,其特征在于:温度显示系统用于显示半导体制冷器的温度,半导体制冷器能够通过改变自身输入电流的大小为热像仪提供不同的均匀温度面;其中,半导体制冷器包括基底(1)、半导体制冷片(2)和温度传感器(3),所述基底(1)尺寸大于热像仪镜头口面,其面向镜头的前表面喷涂有高发射率涂层,其背对镜头的后表面贴由半导体制冷片(2);基底(1)设有若干个与温度显示系统相连接的温度传感器(3)。 
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