[实用新型]一种热像仪可用的非均匀校正装置有效
| 申请号： | 201320707960.2 | 申请日： | 2013-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN203732159U | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 万继敏;王云强;李学智;周健 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01J5/06 | 分类号： | G01J5/06 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 热像仪 可用 均匀 校正 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种热像仪可用的非均匀校正装置，包括半导体制冷器和温度显示系统，其特征在于：温度显示系统用于显示半导体制冷器的温度，半导体制冷器能够通过改变自身输入电流的大小为热像仪提供不同的均匀温度面；其中，半导体制冷器包括基底(1)、半导体制冷片(2)和温度传感器(3)，所述基底(1)尺寸大于热像仪镜头口面，其面向镜头的前表面喷涂有高发射率涂层，其背对镜头的后表面贴由半导体制冷片(2)；基底(1)设有若干个与温度显示系统相连接的温度传感器(3)。
2.如权利要求1所述的热像仪可用的非均匀校正装置，其特征在于：该装置还设有散热组件，其连接半导体制冷片(2)实现散热。
3.如权利要求1或2所述的热像仪可用的非均匀校正装置，其特征在于：所述基底(1)后表面贴有多片并联工作的半导体制冷片(2)。
4.如权利要求1或2所述的热像仪可用的非均匀校正装置，其特征在于：所述基底(1)材质为导热性能好的黄铜或铝制材料。
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