[发明专利]像素缺陷检测方法和装置有效
| 申请号： | 201310713365.4 | 申请日： | 2013-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN104732900A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 刘将;魏朝刚 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01N21/89 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐清凯 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种像素缺陷检测方法，包括如下步骤：对待测基板进行视频扫描；抽取满足预设条件的视频帧图片；将所述视频帧图片与参考图片进行配准获取配准图片；将所述配准图片与所述参考图片进行对比分析确定缺陷像素。上述像素缺陷检测方法通过视频拍摄并抽取满足预设条件的帧图片，相对于普通的相机拍照能够提高检测的速度，通过对视频帧图片与参考图片进行配准可以实现在无高精度物理对准和定位移动扫描的情况下对待测基板缺陷的快速检测。此外还提供了一种像素缺陷检测装置。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种像素缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤:对待测基板进行视频扫描；抽取满足预设条件的视频帧图片；将所述视频帧图片与参考图片进行配准获取配准图片；将所述配准图片与所述参考图片进行对比分析确定缺陷像素。
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