[发明专利]一种应用于锁相环辐照实验的装置有效
申请号: | 201310681087.9 | 申请日: | 2013-12-12 |
公开(公告)号: | CN103675648A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 万书芹;黄召军;张涛;季惠才;蒋颖丹;杨霄垒 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214035 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种应用于锁相环辐照实验的装置,包括辐照检测芯片和FPGA芯片,辐照检测芯片与待测芯片相连,用于检测待测芯片是否发生单粒子事件,以及发生单粒子事件的是待测芯片的哪一部分,然后将判断结果信号发送给FPGA芯片,FPGA芯片通过信号线连接到远程监控中心服务器。所述辐照检测芯片包括:第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路、信号判决电路、逻辑判断电路,以及一个与待测芯片中结构相同的鉴频鉴相器、一个与待测芯片中结构相同的分频器。本发明的优点是:能够自动检测锁相环各个部分的辐照情况,并可通过以太网将检测结果发送到远离辐照试验环境的监控中心,保护了测试人员的人身安全。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 锁相环 辐照 实验 装置 | ||
【主权项】:
一种应用于锁相环辐照实验的装置,其特征在于:包括互相连接的辐照检测芯片和FPGA芯片,辐照检测芯片与待测芯片相连,用于检测待测芯片是否发生单粒子事件,以及发生单粒子事件的是待测芯片的哪一部分,然后将判断结果信号发送给FPGA芯片,FPGA芯片通过信号线连接到远程监控中心服务器,将辐照检测芯片发送过来的信号发送给服务器;所述待测芯片包括依次连接的鉴频鉴相器、电荷泵与环路滤波器模块、压控振荡器、分频器,所述分频器的输出端再连接鉴频鉴相器的输入,形成锁相环;所述辐照检测芯片包括:第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路、信号判决电路、逻辑判断电路,以及一个与待测芯片中结构相同的鉴频鉴相器、一个与待测芯片中结构相同的分频器;待测芯片的鉴频鉴相器的输出信号连接到第一锁定检测电路;待测芯片的鉴频鉴相器的两个输入信号连接辐照检测芯片的鉴频鉴相器,然后再连接第二锁定检测电路;电荷泵与环路滤波器模块的输出信号连接纹波检测电路,压控振荡器的输出信号连接频率检测电路,压控振荡器的输出信号还连接到辐照检测芯片的分频器,辐照检测芯片的分频器和待测芯片的分频器输出信号连接信号判决电路,通过信号判决电路判断两个信号是否相同;所述第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路和信号判决电路的输出端连接到一个逻辑判断电路,逻辑判断电路输出待测芯片中是否发生了单粒子事件以及是哪一个模块发生了单粒子事件的判决信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所,未经中国电子科技集团公司第五十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310681087.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:关键字的还原方法及装置
- 下一篇:利用了网络搜索的依存句法的领域自适应方法