[发明专利]一种小功率发光器件的筛选测试方法

摘要

本发明属于筛选测试技术领域，涉及一种小功率发光器件的筛选测试方法。本发明包括以下步骤：1）储存；2）初次目检；3）初测初筛；4）将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随炉降温，试验期间检查发光器件输出是否正常；5）二次目检；6）终测；7）精筛。本发明可对小功率发光器件进行批次性筛选测试，实用性强，效率高。

主权项

一种小功率发光器件的筛选测试方法，其特征为所述筛选测试方法包括以下步骤：步骤一，储存：发光器件首先在干燥柜存放至少1个月；步骤二，初次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件；步骤三，初测初筛：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持续测试一段时间t；采集并记录t时间段内数据，计算发光器件初始功率输出稳态值P1，P1为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T1；剔除电特性超出指标的发光器件；步骤四，将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随炉降温，试验期间检查发光器件输出是否正常；步骤五，二次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件；步骤六，终测：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持续测试一段时间t；采集并记录t时间段内数据，计算发光器件最终功率输出稳态值P2，P2为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T2；剔除电特性超出指标的发光器件；步骤七，精筛：代入以下公式，得出发光器件光功率衰减量ξ：ξ=P1-P2P1×100%+(T1-T2)α]]>其中，α为发光器件温度系数，单位%/℃；根据功率衰减指标，剔除衰减量超出指标、性能有缺陷的发光器件。