[发明专利]一种小功率发光器件的筛选测试方法

说明书

技术领域

本发明属于筛选测试技术领域，涉及一种小功率发光器件的筛选测试方法。

技术背景

衡量发光器件性能的指标有发光功率、发光时间、功率稳定性、响应速度等，应用不同，性能要求也不一样。作为简单照明、显示使用时，对寿命即发光时间有要求；作为高亮照明时，发光功率是重要特性；作为有精度要求的检测传感器的信号发生器使用时，发光器件稳定性就尤其关键，稳定性越好，传感器精度越高，检测传感器激励源的功率稳定性直接影响系统性能，稳定可靠的激励源是保证系统精度先决条件。

通常发光器件输出稳定性主要由器件发光芯片的加工、焊接及器件封装等制造工艺决定，一旦制作完成，其性能质量就定型，这样的器件功率输出性能得不到保障，对传感器参数调整就造成很大影响，同时随着发光功率的衰减，功率输出重复性差，检测传感器的基准漂移，功率输出不稳定，就引起系统精度损失，为了提高传感器的精度，避免大功率发光器件引起的热效应，会选择功率低的光源，小功率发光器件的功率衰减不仅影响传感器精度，还会降低传感器的使用寿命

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提出一种可提升小功率发光器件功率输出稳定性的筛选测试方法。

本发明的技术方案是：一种小功率发光器件的筛选测试方法，其特征为所述筛选测试方法包括以下步骤：

步骤一，储存：发光器件首先在干燥柜存放至少1个月；

步骤二，初次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件；

步骤三，初测初筛：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持续测试一段时间t；采集并记录t时间段内数据，计算发光器件初始功率输出稳态值P1，P1为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T1；剔除电特性超出指标的发光器件；

步骤四，将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随炉降温，试验期间检查发光器件输出是否正常；

步骤五，二次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件；

步骤六，终测：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持续测试一段时间t；采集并记录t时间段内数据，计算发光器件最终功率输出稳态值P2，P2为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T2；剔除电特性超出指标的发光器件；

步骤七，精筛：代入以下公式，得出发光器件光功率衰减量ξ：

ξ=P1-P2P1×100%+(T1-T2)α]]>

其中，α为发光器件温度系数，单位%/℃；根据功率衰减指标，剔除衰减量超出指标、性能有缺陷的发光器件。

本发明具有的优点和有益效果是：第一，本方法测试过程简单，两次外观检查最大限度的排除了由于物理原因造成的发光器件性能不稳定的影响；第二，本发明测试数据准确，实时记录的测试温度值在计算功率衰减时进行补偿，降低了发光器件因温度敏感带来的误差；用功率稳态值计算排除了器件响应速度带来的影响；第三，本发明适用范围广，不同种类、体积发光器件，只要对输出稳定性有要求，都可用本方法进行筛选测试。总之，本发明可对小功率发光器件进行批次性筛选测试，实用性强，效率高，可用于发光器件制造、工艺优化等流程工序中，大大提高了小功率发光器件使用的可靠性及光功率输出的稳定性，在确保了工作寿命的同时，提高了功率输出稳定性及重复性。

附图说明

图1是本发明小功率发光器件的筛选测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式做进一步说明。