[发明专利]沟槽型肖特基器件结构及其制造方法有效
申请号: | 201310571205.0 | 申请日: | 2013-11-15 |
公开(公告)号: | CN103632959B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 郑晨炎;张小辛;傅静 | 申请(专利权)人: | 中航(重庆)微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/872;H01L29/06;H01L29/40 |
代理公司: | 上海光华专利事务所31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 401331 重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明提供一种沟槽型肖特基器件结构及其制造方法,包括:N型重掺杂的基板;N型轻掺杂的硅外延层,形成于所述基板上;至少两个沟槽,形成于所述硅外延层中;所述沟槽表面依次形成有第一二氧化硅层、中间电介质层及第二二氧化硅层;高掺杂N型多晶硅层,填充于所述沟槽中;金属硅化物层,形成于所述硅外延层表面;正面电极,形成于所述金属硅化物层表面;背面电极,形成于所述N型重掺杂的基板背面。本发明第一二氧化硅层/中间电介质层/第二二氧化硅层复合结构作为沟槽介质层,以能够显著减小漏电流,不仅满足提高击穿电压和降低漏电流的需要,又有利于采用更窄的沟槽结构,从而增加了肖特基势垒接触面积而降低正向导通电压。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 型肖特基 器件 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽型肖特基器件结构的制造方法,其特征在于,至少包括以下步骤:1)提供一N型重掺杂的基板,在所述N型重掺杂的基板上形成一N型轻掺杂的硅外延层;2)在所述N型轻掺杂的硅外延层中形成至少两个沟槽,在所述沟槽表面依次形成第一二氧化硅层、中间电介质层及第二二氧化硅层;3)在所述沟槽中沉积高掺杂N型多晶硅层并去除所述沟槽外多余的高掺杂N型多晶硅层、第一二氧化硅层、中间电介质层及第二二氧化硅层直至露出所述N型轻掺杂的硅外延层表面;4)在所述N型轻掺杂的硅外延层表面形成肖特基金属层,并采用热处理方法使得所述肖特基金属层与所述N型轻掺杂的硅外延层反应生成金属硅化物层;5)在所述金属硅化物层表面形成正面电极层;在所述N型重掺杂的基板背面形成背面电极层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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