[发明专利]沟槽型肖特基器件结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310571205.0 申请日: 2013-11-15
公开(公告)号: CN103632959B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 郑晨炎;张小辛;傅静 申请(专利权)人: 中航(重庆)微电子有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/872;H01L29/06;H01L29/40
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 李仪萍
地址: 401331 重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明提供一种沟槽型肖特基器件结构及其制造方法,包括:N型重掺杂的基板;N型轻掺杂的硅外延层,形成于所述基板上;至少两个沟槽,形成于所述硅外延层中;所述沟槽表面依次形成有第一二氧化硅层、中间电介质层及第二二氧化硅层;高掺杂N型多晶硅层,填充于所述沟槽中;金属硅化物层,形成于所述硅外延层表面;正面电极,形成于所述金属硅化物层表面;背面电极,形成于所述N型重掺杂的基板背面。本发明第一二氧化硅层/中间电介质层/第二二氧化硅层复合结构作为沟槽介质层,以能够显著减小漏电流,不仅满足提高击穿电压和降低漏电流的需要,又有利于采用更窄的沟槽结构,从而增加了肖特基势垒接触面积而降低正向导通电压。
搜索关键词: 沟槽 型肖特基 器件 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种沟槽型肖特基器件结构的制造方法,其特征在于,至少包括以下步骤:1)提供一N型重掺杂的基板,在所述N型重掺杂的基板上形成一N型轻掺杂的硅外延层;2)在所述N型轻掺杂的硅外延层中形成至少两个沟槽,在所述沟槽表面依次形成第一二氧化硅层、中间电介质层及第二二氧化硅层;3)在所述沟槽中沉积高掺杂N型多晶硅层并去除所述沟槽外多余的高掺杂N型多晶硅层、第一二氧化硅层、中间电介质层及第二二氧化硅层直至露出所述N型轻掺杂的硅外延层表面;4)在所述N型轻掺杂的硅外延层表面形成肖特基金属层,并采用热处理方法使得所述肖特基金属层与所述N型轻掺杂的硅外延层反应生成金属硅化物层;5)在所述金属硅化物层表面形成正面电极层;在所述N型重掺杂的基板背面形成背面电极层。
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